[发明专利]一种多台自准直仪光轴平行性校准方法

说明书

本发明提供了一种多台自准直仪自身光轴位置校准方法，该方法包括如下步骤：步骤1)确定基准和待调节自准直仪的自身光轴位置；步骤2)调节自准直仪平行性。该方法通过自准直仪和一个转台、一块平面反射镜，就能实现多台自准直仪光轴平行性的校准，校准精度高，所需设备简单，也没有距离限制；避免了使用大口径平行光管，节约成本，不局限于大口径平行光管的口径范围内，调节范围大。

技术领域

本发明涉及一种用于光学装置校准方法，特别涉及一种装调和测试的多台自准直仪光轴平行性校准方法。

背景技术

在光学装调和测试领域，常常需要用到自准直仪建立光轴位置基准，来进行光学系统的装调测试。有时需要两台以上不同位置的自准直仪光轴平行，如双筒望远镜光轴测试等，但现有的光电自准直仪都对返回光线位置建立一个相对基准，对于自身光轴位置并不确定，无法判断被测元件是否与光路垂直。校准两台以上同方向的光电自准直仪光轴平行性需要用到大口径平行光管。相对方向的自准直仪光轴则难以校准。

现有调整两台自准直仪光轴平行性方法为：用一台大口径平行光管接收被测自准直仪出射光束，观察焦平面上两个目标相是否重合，，若重合则了两台自准直仪光轴平行。相对方向的两台自准直仪光轴则很难校准，需要先准备一块垂直于大口径平行光管光路的平面反射镜才可以进行。但此校准方法对两台自准直仪位置限制在平行光管通光口径内，较远距离的无法校准。

因此，需提供一种能实现多台自准直仪光轴平行性校准的方法。

发明内容

发明目的：

本发明的目的在于提供一种能实现多台自准直仪光轴平行性的校准方法，以解决现有技术存在的问题

技术方案：

本发明提供了一种自准直仪自身光轴位置校准方法，该方法包括如下步骤：

步骤1)确定基准和待调节自准直仪的自身光轴位置；

步骤2)调节自准直仪平行性。

进一步的，所述步骤1)包括：

1.1)准备一台带十字目标源的自准直平行光管，将其固定在一个垂直支架上，使出光口大致垂直向下；

1.2)在自准直光管正下方的调节转台上放置平面反射镜，调整光管与反射镜位置，使出射的光管光束经反射镜反射回来并在自身显示器上成像；

1.3)旋转放置平面反射镜的平台，调整转台俯仰倾斜角度，观察光管的显示器上的十字像位置，若转动转台时十字像位置不变，即为自准直光管光轴，标记为基准；

1.4)同上方法确定被测自准直仪自身光轴位置。

进一步的，所述步骤2)包括：

将两台自准直仪并排放置，用一块可覆盖两自准直仪口径的平面反射镜对其出射光进行反射，调整各自自准直仪俯仰方位角度，使各自返回十字像都位于自身光轴位置，则两台自准直仪光轴都垂直于平面反射镜，即被测自准直仪平行性调整完毕。

自准直光管出射光与平面反射镜不垂直时，经平面反射镜反射回来成像的十字像会随着平台旋转轨迹为一个圆。

进一步的，若自准直仪位置较远，则按上述步骤2)调整完毕后，移动反射镜位置，调整反射镜位置使自准直仪返回像与原位置重合，再移动自准直仪，调整移动后自准直仪使自准直仪返回像与原位置重合，进而将自准直仪平移到所需要的位置。

平面镜移动后调整位置使十字像回到原位置，则此时自准直仪光轴与平面反射镜仍垂直，再固定平面反射镜，移动自准直仪，移动后使十字像也回到原位置，则自准直仪光轴与之前仍然平行。