[发明专利]多变量自相关过程残差T2有效

专利信息
申请号: 201910989916.7 申请日: 2019-10-17
公开(公告)号: CN110750078B 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 薛丽;李聪凯;王国东;陈洪根;张国辉;周昊飞;张霖;牛小娟 申请(专利权)人: 郑州航空工业管理学院
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 郑州豫鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 41178 代理人: 魏新培
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 多变 相关 过程 base sup
【权利要求书】:

1.多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:样本数据的分析与建模;设定产品的p维质量特性值Xt不独立,具有自相关性,并且服从平稳q阶向量自回归VAR(q)模型;

S2:平稳性检验;经检验,若不存在单位根,则序列平稳,若存在单位根,则序列不平稳;

S3:确定模型阶数;根据AIC准则和SC准则进行模型的定阶,比较AIC统计量和SC统计量,使AIC统计量和SC统计量最小的阶数即为模型阶数;

S4:模型参数估计;采用最小二乘估计法估计模型中的参数;

S5:计算控制图的统计量{Yt};根据上述模型得到满足独立性的白噪声序列{εt},从而计算出控制图的统计量{Yt};

S6:控制图的可变抽样区间设计;包括基于给定的虚发报警概率α以及所监控质量特性的维数来求得控制图的控制限、设定控制图的警戒限和样本容量、设置可变抽样区间h1和h2,且h1>h2>0;

S7:控制图的监控;若样本点落在安全域,则下一个抽样区间为h1,若样本点落在警戒域,则下一个抽样区间为h2,若样本点超出控制限,则控制图报警;

S8:运用蒙特卡洛算法计算平均报警时间ATS;

S9:比较VSI残差T2控制图和FSI残差T2控制图的ATS大小。

2.根据权利要求1所述多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,其特征在于,所述S4中,经过模型参数估计可以得到q阶向量自回归VAR(q)模型:

其中,φ0=(φ102030...φp0)'是截距项向量,Ai表示p×p维的自相关系数矩阵,εt=(ε1t2t,...,εpt)/为均值为0的白噪声序列;

对模型和参数进行有效性检验,若结果显著,说明模型以及参数是有效的;

对于平稳过程VAR(q),Xt的均值向量μ=(μ1,μ2,...,μp)/和自相关系数矩阵Ai都不依赖于时间t;

εt=(ε1t2t,...,εpt)/ (2)

为均值为0的白噪声序列。

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