[发明专利]基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法有效
申请号: | 201910990550.5 | 申请日: | 2019-10-17 |
公开(公告)号: | CN110929375B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 李超;耿贺彬;郑深;方广有 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F17/15;G06F17/11;G06F111/10 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴梦圆 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二维 矩量法 射线 追迹法 透镜 高效 仿真 优化 方法 | ||
1.一种基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,包括:
步骤S1:仿真分析标准透镜聚焦效果;
步骤S2:采用射线追迹法优化透镜曲线;以及
步骤S3:采用二维矩量法仿真分析验证标准透镜的聚焦效果;
步骤S2中,采用射线追迹法模拟波束的传播,在进行射线追迹模拟波束传播时,需要按照场强分布给每条射线分配不同的权重系数:
E(r)/E(0)=exp[-(r/w(x))2];
其中,r为射线偏轴距离,w(x)为场强下降到光轴上1/e时所对应的波束半径,w(x)表达如下式:
λ为波长,w0为x=0处高斯波束的束腰半径。
2.根据权利要求1所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,所述步骤S1包括如下子步骤:
步骤S11:高斯波束的二维化处理;以及
步骤S12:矩量法仿真分析介质透镜。
3.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,通过对磁矢位直接定义,而后再分别求出电场和磁场波束传播方向为xyz坐标轴中+x方向,磁矢位极化方向为+z方向:
其中,k0为自由空间的波数;j表示虚数,表征电磁波传播过程中随距离变化而产生的相位变化;λ为波长;w0为高斯波束的束腰半径,也即x=0处的波束半径;w(x)为场强下降到光轴上1/e时所对应的波束半径,R(x)为球面波的曲率半径,为固定相差,是附加的相位变化,μ0为自由空间的磁导率。
4.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,对于介质透镜,积分方程选用PMCHW方程:
其中,分别为入射电场、入射磁场,为介质透镜表面的外向单位法矢量,为介质表面的等效电流,为介质表面的等效磁流,Z1、Z2分别为背景空间和介质内的波阻抗,Lm、Km为两个积分算子:
Gm为格林函数,m=1,2;k1、k2分别为背景空间和介质体内的波数;对于二维问题,格林函数为零阶第二类汉克尔函数:
此时,积分算子可表示为:
其中分别为场点和源点的位置矢量,为场、源之间的距离。
5.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,采用矩形窗函数作为基函数,将介质区域的边界曲线划分成n段,将每一段上电磁流分布看作定值Jj、Mj,对待求的电、磁流进行离散:
介质透镜截面曲线上第j个线段的端点坐标分别为Pj′和Pj+1′,是定义在该线段上的基函数:
其中,u(x)表示阶跃函数,Δj表示介质透镜截面曲线上第j个线段的长度,l′∈(0,Δj),为+z向的单位矢量,为介质截面曲线上第j段的单位方向矢量:
6.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,选用分段的三角函数作为试函数:
其中,u(x)表示阶跃函数,Δi表示介质透镜截面曲线上第i个线段的长度,l∈(0,Δi);为+z向的单位矢量,为介质截面曲线上第i段的单位方向矢量:
7.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,为了提高矩量法计算的效率,对介质透镜的截面曲线进行一次剖分即可。
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