[发明专利]基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法有效

专利信息
申请号: 201910990550.5 申请日: 2019-10-17
公开(公告)号: CN110929375B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 李超;耿贺彬;郑深;方广有 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/15;G06F17/11;G06F111/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 二维 矩量法 射线 追迹法 透镜 高效 仿真 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,包括:

步骤S1:仿真分析标准透镜聚焦效果;

步骤S2:采用射线追迹法优化透镜曲线;以及

步骤S3:采用二维矩量法仿真分析验证标准透镜的聚焦效果;

步骤S2中,采用射线追迹法模拟波束的传播,在进行射线追迹模拟波束传播时,需要按照场强分布给每条射线分配不同的权重系数:

E(r)/E(0)=exp[-(r/w(x))2];

其中,r为射线偏轴距离,w(x)为场强下降到光轴上1/e时所对应的波束半径,w(x)表达如下式:

λ为波长,w0为x=0处高斯波束的束腰半径。

2.根据权利要求1所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,所述步骤S1包括如下子步骤:

步骤S11:高斯波束的二维化处理;以及

步骤S12:矩量法仿真分析介质透镜。

3.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,通过对磁矢位直接定义,而后再分别求出电场和磁场波束传播方向为xyz坐标轴中+x方向,磁矢位极化方向为+z方向:

其中,k0为自由空间的波数;j表示虚数,表征电磁波传播过程中随距离变化而产生的相位变化;λ为波长;w0为高斯波束的束腰半径,也即x=0处的波束半径;w(x)为场强下降到光轴上1/e时所对应的波束半径,R(x)为球面波的曲率半径,为固定相差,是附加的相位变化,μ0为自由空间的磁导率。

4.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,对于介质透镜,积分方程选用PMCHW方程:

其中,分别为入射电场、入射磁场,为介质透镜表面的外向单位法矢量,为介质表面的等效电流,为介质表面的等效磁流,Z1、Z2分别为背景空间和介质内的波阻抗,Lm、Km为两个积分算子:

Gm为格林函数,m=1,2;k1、k2分别为背景空间和介质体内的波数;对于二维问题,格林函数为零阶第二类汉克尔函数:

此时,积分算子可表示为:

其中分别为场点和源点的位置矢量,为场、源之间的距离。

5.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,采用矩形窗函数作为基函数,将介质区域的边界曲线划分成n段,将每一段上电磁流分布看作定值Jj、Mj,对待求的电、磁流进行离散:

介质透镜截面曲线上第j个线段的端点坐标分别为Pj′和Pj+1′,是定义在该线段上的基函数:

其中,u(x)表示阶跃函数,Δj表示介质透镜截面曲线上第j个线段的长度,l′∈(0,Δj),为+z向的单位矢量,为介质截面曲线上第j段的单位方向矢量:

6.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,选用分段的三角函数作为试函数:

其中,u(x)表示阶跃函数,Δi表示介质透镜截面曲线上第i个线段的长度,l∈(0,Δi);为+z向的单位矢量,为介质截面曲线上第i段的单位方向矢量:

7.根据权利要求2所述的基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法,步骤S12中,为了提高矩量法计算的效率,对介质透镜的截面曲线进行一次剖分即可。

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