[发明专利]用于降低氮化镓晶体管中栅极电压振荡的可变电阻在审
申请号: | 201910990760.4 | 申请日: | 2019-10-18 |
公开(公告)号: | CN111092119A | 公开(公告)日: | 2020-05-01 |
发明(设计)人: | J·罗伊格-吉塔特;A·康斯坦特;F·J·G·德克勒克 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L23/64 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 秦晨 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 降低 氮化 晶体管 栅极 电压 振荡 可变 电阻 | ||
本发明题为“用于降低氮化镓晶体管中栅极电压振荡的可变电阻”。本发明提供了一种半导体晶体管器件,该半导体晶体管器件包括GaN晶体管,该GaN晶体管包括漏极、栅极和源极,GaN晶体管具有驱动电压,该驱动电压施加在栅极和源极两端,并且被配置为在与GaN晶体管的导通状态相关联的导通电压和与GaN晶体管的关断状态相关联的关断电压之间切换。半导体晶体管器件还包括可变栅极‑源极电阻器,该可变栅极‑源极电阻器连接在栅极和源极之间并具有可变电阻,该可变电阻响应于驱动电压当在GaN晶体管的导通状态和关断状态之间切换时的变化而改变。
技术领域
本说明书涉及氮化镓晶体管器件中栅极电压振荡的降低。
背景技术
氮化镓(GaN)晶体管在构建集成电路方面提供了许多优势。例如,与传 统的硅基晶体管相比,GaN晶体管对于特定的导通电阻和击穿电压通常具有 较小的尺寸。此外,与用于构建晶体管的其他选项相比,GaN晶体管通常在 实现高功率、高频、高电压和/或高温应用方面提供优势。
发明内容
根据一个总体方面,一种半导体晶体管器件包括GaN晶体管,该GaN 晶体管包括漏极、栅极和源极,该GaN晶体管具有驱动电压,该驱动电压 施加在栅极和源极两端,并且被配置为在与GaN晶体管的导通状态相关联 的导通电压和与GaN晶体管的关断状态相关联的关断电压之间切换。半导 体晶体管器件还包括可变栅极-源极电阻器,该可变栅极-源极电阻器连接在 栅极和源极之间并具有可变电阻,该可变电阻响应于驱动电压当在GaN晶 体管的导通状态和关断状态之间切换时的变化而改变。
一个或多个实施方式的细节在随附附图和以下描述中阐明。其他特征将 从说明书和附图中以及从权利要求书中显而易见。
附图说明
图1是GaN晶体管的电路图,该电路图具有用于增强切换稳定性的可 变栅极-源极电阻器。
图2是示出施加到图1的GaN晶体管的示例性电压的时序图。
图3是示出图1的可变源极-栅极电阻器的电阻值的电压和频率响应特 性的图。
图4是示出图1的电路的另选示例性实施方式的电路图。
图5是示出图4的电路的示例性构造的图。
图6是图1的电路的另选示例性实施方式的电路图。
图7是示出图6的电路的示例性构造的图。
图8是示出图6的可变栅极电阻器的电阻值的频率响应的图。
图9是示出用于实现图1、图4和图6的电路的变型的示例性布局的图。
图10是示出图1的可变栅极-源极电阻器的电流电压曲线图的图。
图11是示出图1的可变栅极-源极电阻器的电阻值对于可变栅极-源极 电阻器的不同施加电压和不同电极间距的频率响应的曲线图。
图12是示出在关断操作的时间期间图1的GaN晶体管两端的栅极源极 电压变化的时序图。
图13是示出在接通操作的时间期间图1的GaN晶体管的栅极源极电压 变化的时序图。
图14A是图1、图4和图6的电路的另选实施方式的电路图。
图14B是图14A的电路的另选实施方式的电路图。
图15是图1、图4和图6的电路的另选实施方式的电路图。
图16A是图1、图4和图6的电路的另选实施方式的电路图。
图16B是图16A的电路的另选实施方式的电路图。
图17是图1、图4和图6的电路的另选实施方式的电路图。
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