[发明专利]一种防翻新芯片及验证方法

权利要求书

1.一种防翻新芯片，其特征在于，包括：计时信号记录装置、控制器和反熔丝存储器，所述计时信号记录装置连接控制器，所述控制器连接反熔丝存储器；所述控制器将计算信号记录装置的使用时间计数数据写入所述反熔丝存储器。

2.根据权利要求1所述的防翻新芯片，其特征在于，所述计时信号记录装置包括计数器和累加器，所述计数器连接累加器输入端，所述累加器输出端连接控制器；所述计数器根据外部时钟输入的时钟信号生成进位标志；所述累加器对计数器生成的进位标志的数量进行计数。

3.根据权利要求1所述的防翻新芯片，其特征在于，所述芯片还包括地址寄存器，地址寄存器输入端连接反熔丝存储器，地址寄存器输出端连接控制器。

4.根据权利要求1所述的防翻新芯片，其特征在于，所述芯片还包括多路选择器，所述多路选择器输入端分别连接地址寄存器和芯片功能数据输出端。

5.一种防翻新芯片验证方法，其特征在于，包括：

将芯片外部时钟输入的时钟信号转换为使用时间计数数据；

将所述使用时间计数数据写入反熔丝存储器；

读取所述反熔丝存储器，若读取到使用时间计数数据则判定芯片为翻新芯片。

6.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，所述将芯片外部时钟输入的时钟信号转换为使用时间计数数据，包括：

采集外部时钟输入的时钟信号；

监控到所述时钟信号每计数到预设次数则生成一个进位标志；

累计计数所述进位标志数量，并将所述标志数量转换为使用时间计数数据输出。

7.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，所述将使用时间计数数据写入反熔丝存储器，包括：

读取地址寄存器中的反熔丝存储器的使用状态；

根据所述使用状态选取反熔丝存储器的空闲存储单元；

将所述使用时间计数数据写入所述空闲存储单元。

8.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，所述读取反熔丝存储器，包括：

通过将多路选择器的引脚调至高电平，将地址寄存器中的反熔丝存储器使用状态输出到芯片外部数据引脚；

通过将多路选择器的引脚调至低电平，将芯片的功能数据通过芯片外部数据引脚输出。