[发明专利]一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置及其检测方法在审

专利信息
申请号: 201911001855.5 申请日: 2019-10-21
公开(公告)号: CN112763947A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 姚立新;杨建华 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 李玲
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 环形 磁块磁 偏心 偏角 装置 及其 方法
【说明书】:

发明公开了一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置,该检测装置包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构和磁偏心磁偏角检测组件,所述磁偏心磁偏角检测组件包括固定于所述偏摆框顶部下表面的感光芯片和固定于所述外壳内部的激光器。激光器发射出的激光束被感光芯片接收并通过处理器处理计算出磁偏心和磁偏角。该检测装置结构稳定,其特殊的偏摆结构能够快速的稳定,从而测出环形磁块的磁偏心和磁偏角。其外壳采用低碳钢套筒进行磁屏蔽技术,克服外界干扰,适合在生产线应用。

技术领域

本发明涉及特殊材质工件自动化检测技术领域,特别是涉及一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置及其检测方法。

背景技术

环形磁块的磁偏角是指环理想磁化方向与实际磁化方向之间的偏角,是在环形磁块磁取向成型过程中,产品取向方向和取向磁场方向不平行而产生的。磁偏心是指环形磁块的实际磁场中心与理想磁场中心的偏移量。

《永磁体磁偏角测量方法的研究》(计量技术2014.No 2,作者:侯瑞芬等)一文中提出,基于亥姆霍兹线圈与磁通计组合形成的开磁路磁矩测量原理,使用数字磁通计和亥姆霍兹线圈样品台的组合作为测量装置精确测量永磁体的磁偏角。该测量方法通过测量两个方向的磁通以获得磁偏角,测量方法繁琐,装置复杂成本较高,无法实现对批量永磁体的高效快速测量。

相关技术的磁偏角测量系统包括磁场检测装置,所述磁场检测装置包括支撑架、亥姆霍兹线圈和测试台,所述亥姆霍兹线圈和所述测试台分别支撑于所述支撑架。相关技术的磁偏角测量系统测试永磁体样品时,将所述永磁体样品放置于所述测试台,通过手动方式移动永磁体切割磁力线,从而达到测试目的。然而,相关技术的磁偏角测量系统因手工作业,动作一致性难以保证,导致测量误差较大,测试效率低下。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中磁偏角测量方法繁琐,装置复杂且测试误差较大效率低下的缺陷,而提供一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置,该检测装置包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构和磁偏心磁偏角检测组件,所述磁偏心磁偏角检测组件包括固定于所述偏摆框顶部下表面的感光芯片和固定于所述外壳内部的激光器。激光器发射出的激光束被感光芯片接收并通过处理器处理计算出磁偏心和磁偏角。

本发明的另一个目的是,提供一种利用激光定位检测环形磁块磁偏心和磁偏角的方法,该方法原理简单,并且有较高的精度。

为实现本发明的目的所采用的技术方案是:

一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置,包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构和磁偏心磁偏角检测组件,其中:

所述外壳的顶部设有用于对环形磁块进行定位的定位组件;

所述偏摆结构自然状态下与所述环形磁块同轴心,所述偏摆结构包括导磁环、受所述导磁环驱动顶部发生偏摆的偏摆框和用于稳定所述偏摆框底部的稳定组件;

所述磁偏心磁偏角检测组件包括固定于所述偏摆框顶部下表面的感光芯片和固定于所述外壳内部的激光器。

一种检测环形磁块磁偏心和磁偏角的检测装置,包括外壳、设置于外壳内的偏摆结构和磁偏心磁偏角检测组件,其中:

所述外壳的顶部设有用于对环形磁块进行定位的定位组件;

所述偏摆结构自然状态下与所述环形磁块同轴心,所述偏摆结构包括导磁环、受所述导磁环驱动顶部发生偏摆的偏摆框和用于稳定所述偏摆框底部的稳定组件;

所述磁偏心磁偏角检测组件包括固定于所述偏摆框顶部下表面的定位光斑以及通过固定组件固定于所述外壳内的工业相机和光源,所述光源位于所述工业相机和定位光斑之间,所述工业相机和光源处于所述环形磁块的轴心线上,所述定位光斑在自然状态下处于所述环形磁块的轴心线上。

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