[发明专利]一种谷物收获机籽粒损失检测方法和系统有效
申请号: | 201911004706.4 | 申请日: | 2019-10-22 |
公开(公告)号: | CN110622684B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 耿端阳;牟孝栋;谭德蕾;兰玉彬;姚艳春;纪晓琪;印祥;陈玉龙;张彦斐 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | A01D41/127 | 分类号: | A01D41/127 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 刘凤玲 |
地址: | 2550*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 谷物 收获 籽粒 损失 检测 方法 系统 | ||
1.一种谷物收获机籽粒损失检测方法,应用于谷物收获机,其特征在于,所述方法包括:在所述谷物收获机逐稿器的长度方向上,确定两个参考位置;将距所述逐稿器尾端近的参考位置记为第一参考位置,将距所述逐稿器尾端远的参考位置记为第二参考位置;
构建籽粒含量检测模型;所述籽粒含量检测模型为:y=ae-μl,其中,y为检测得到的籽粒含量,a为谷物籽粒总量,μ为逐稿器的分离系数,l为传感器距逐稿器首端的长度,e为自然常数;
获取自第一参考位置到逐稿器尾端的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第一籽粒含量;
获取自所述第一参考位置到所述第二参考位置的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第二籽粒含量;
将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定分离系数μ,包括:
将第一籽粒含量y1代入所述籽粒含量检测模型,得到第一方程
将第二籽粒含量y2代入所述籽粒含量检测模型,得到第二方程
根据所述第一方程和所述第二方程得到所述分离系数μ;
其中,L为逐稿器的总长度,l1为第一传感器距逐稿器尾端的距离,l2第一传感器与第二传感器间的距离;
根据所述分离系数μ和逐稿器长度,确定谷物收获机的籽粒损失率R,R=e-μL×100%,其中L为所述逐稿器的总长度。
2.根据权利要求1所述的一种谷物收获机籽粒损失检测方法,其特征在于,所述参考位置为用于检测籽粒冲击频率的PVDF压电薄膜传感器的安装位置,且将距所述逐稿器尾端近的PVDF压电薄膜传感器的安装位置作为第一参考位置;将距所述逐稿器尾端远的PVDF压电薄膜传感器的安装位置作为第二参考位置。
3.根据权利要求1所述的一种谷物收获机籽粒损失检测方法,其特征在于,所述方法还包括:将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定谷物籽粒总量a;
根据所述谷物籽粒总量a和所述分离系数μ,确定谷物收获机抛撒口处秸秆中的籽粒含量;
所述谷物收获机抛撒口处秸秆中的籽粒含量为yL,yL=ae-μL,其中,L为逐稿器的总长度。
4.一种谷物收获机籽粒损失检测系统,其特征在于,包括:
参考位置确定单元,用于在所述谷物收获机逐稿器的长度方向上,确定两个参考位置;将距所述逐稿器尾端近的参考位置记为第一参考位置,将距所述逐稿器尾端远的参考位置记为第二参考位置;
检测模型构建单元,用于构建籽粒含量检测模型;所述籽粒含量检测模型为:y=ae-μl,其中,y为检测得到的籽粒含量,a为谷物籽粒总量,μ为逐稿器的分离系数,l为传感器距逐稿器首端的长度,e为自然常数;
第一籽粒含量获取单元,用于获取自第一参考位置到逐稿器尾端这一位置处的茎秆中夹带的第一籽粒含量;
第二籽粒含量获取单元,用于获取自所述第一参考位置到第二参考位置这一位置处的茎秆中夹带的第二籽粒含量;
系数确定单元,用于将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定分离系数μ;
所述系数确定单元包括:
第一方程获取子单元,用于将第一籽粒含量y1代入所述籽粒含量检测模型,得到第一方程
第二方程获取子单元,用于将第二籽粒含量y2代入所述籽粒含量检测模型,得到第二方程
分离系数确定子单元,用于根据所述第一方程和所述第二方程得到所述分离系数μ;
其中,L为逐稿器的总长度,l1为第一传感器距逐稿器尾端的距离,l2第一传感器与第二传感器间的距离;
籽粒损失率确定单元,用于根据所述分离系数μ和逐稿器长度,确定谷物收获机的籽粒损失率R,R=e-μL×100%,其中L为所述逐稿器的总长度。
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