[发明专利]一种谷物收获机籽粒损失检测方法和系统有效
申请号: | 201911004706.4 | 申请日: | 2019-10-22 |
公开(公告)号: | CN110622684B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 耿端阳;牟孝栋;谭德蕾;兰玉彬;姚艳春;纪晓琪;印祥;陈玉龙;张彦斐 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | A01D41/127 | 分类号: | A01D41/127 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 刘凤玲 |
地址: | 2550*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 谷物 收获 籽粒 损失 检测 方法 系统 | ||
本发明公开了一种谷物收获机籽粒损失检测方法和系统。所述方法包括:在谷物收获机逐稿器的长度方向上,确定两个参考位置;将距逐稿器尾端近的参考位置记为第一参考位置,将距逐稿器尾端远的参考位置记为第二参考位置;构建籽粒含量检测模型;获取自第一参考位置到逐稿器尾端的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第一籽粒含量;获取自第一参考位置到第二参考位置的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第二籽粒含量;将第一籽粒含量和第二籽粒含量代入籽粒含量检测模型,以确定分离系数;根据分离系数结合逐稿器长度,确定谷物收获机的籽粒损失率。本发明提供的谷物收获机籽粒损失检测方法和系统,能够提高谷物损失的检测精度,且具有检测效率高的特点。
技术领域
本发明涉及损失率检测技术领域,特别是涉及一种谷物收获机籽粒损失检测方法和系统。
背景技术
谷物收获机籽粒损失监测方法现阶段采用的是通过在清选筛尾部安装压电薄膜传感器的方式对清选系统损失率进行直接监测,该方式由于谷物或杂余乱飞而撞不到传感器所造成的监测误差,使得谷物收获机籽粒损失率的检测结果存在较大误差,并不能对谷物收获机的籽粒损失率进行精确检测。并且,现有方法需要再整个谷物收获过程中持续进行检测才能估计得到谷物收获机的籽粒损失率,检测效率比较低下。
因此,提供一种能够提高损失率检测精度和检测效率的方法,是本领域亟待解决的一个技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种谷物收获机籽粒损失检测方法和系统,能够提高谷物损失的检测精度,且具有检测效率高的特点。
为实现上述目的,本发明提供了如下方案:
一种谷物收获机籽粒损失检测方法,应用于谷物收获机,所述方法包括:在所述谷物收获机逐稿器的长度方向上,确定两个参考位置;将距所述逐稿器尾端近的参考位置记为第一参考位置,将距所述逐稿器尾端远的参考位置记为第二参考位置;
构建籽粒含量检测模型;所述籽粒含量检测模型为:y=ae-μl,其中,y为检测得到的籽粒含量,a为谷物籽粒总量,μ为逐稿器的分离系数,l为传感器距逐稿器首端的长度,e为自然常数;
获取自第一参考位置到逐稿器尾端的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第一籽粒含量;
获取自所述第一参考位置到所述第二参考位置的茎秆中夹带籽粒的含量,记为第二籽粒含量;
将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定分离系数μ;
根据所述分离系数μ和逐稿器长度,确定谷物收获机的籽粒损失率R,R=e-μL×100%,其中L为所述逐稿器的总长度。
可选的,所述将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定分离系数μ,包括:
将第一籽粒含量y1代入所述籽粒含量检测模型,得到第一方程
将第二籽粒含量y2代入所述籽粒含量检测模型,得到第二方程
根据所述第一方程和所述第二方程得到所述分离系数μ;
其中,L为逐稿器的总长度,l1为第一传感器距逐稿器尾端的距离,l2第一传感器与第二传感器间的距离。
可选的,所述参考位置为用于检测籽粒冲击频率的PVDF压电薄膜传感器的安装位置,且将距所述逐稿器尾端近的PVDF压电薄膜传感器的安装位置作为第一参考位置;将距所述逐稿器尾端远的PVDF压电薄膜传感器的安装位置作为第二参考位置。
可选的,所述方法还包括:将所述第一籽粒含量和第二籽粒含量代入所述籽粒含量检测模型,以确定谷物籽粒总量a;
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