[发明专利]光学特性评价方法以及光学特性评价系统有效

专利信息
申请号: 201911017114.6 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN111103241B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 增田修;平林和彦;田中博文;中岛孝治 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达株式会社
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G02F1/13
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 金兰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 特性 评价 方法 以及 系统
【说明书】:

本发明的课题在于,提供能够简便且定量地评价评价对象的光学膜光学特性的不均匀性的光学特性评价方法和光学特性评价系统。解决手段是,光学膜的评价方法,其中,基于对评价对象的光学膜和检偏振器进行了透射的光的偏振状态的分析而评价该光学膜的光学特性的不均匀性,所述方法的特征在于,针对多个部位测量光学膜的相位差以及取向角,且使用表示入射光的偏振状态的矢量、和至少光学膜以及检偏振器的偏振特性的矩阵,基于通过下述运算式1而运算的出射光的矢量的参数,对光学特性的不均匀性进行定量化而评价。(运算式1):F2=M×F1。

技术领域

本发明涉及光学特性评价方法以及光学特性评价系统。

背景技术

近年来,液晶显示装置被广泛用于电视或电脑的监视器等。在液晶显示装置中,利用相位差膜、保护膜、视角扩大膜等具有依赖于光学特性的特定功能的各种各样的光学膜。

伴随近年的液晶显示装置的高对比度化,在光学膜中所要求的品质提高。液晶显示装置利用液晶所具有的双折射特性而得到对比度,因此液晶显示装置的画质取决于所使用的光学膜的光学特性。因此,期望光学膜的光学特性整体上是均匀的,但在制造的过程中进行拉伸等时,其光学特性有时变得不均匀。因这种光学特性的不均匀性,在液晶显示装置的画面中产生亮度的偏差,即所谓的显示不均匀。

因此,评价光学膜的光学特性,进行是否具有均匀的光学特性的检查。例如,在专利文献1中,记载了将所制作的光学膜并入液晶显示装置中,通过目视而评价画面上的显示不均匀的方法。

专利文献1:日本特开2001-290025号公报

发明内容

然而,如专利文献1中记载那样,在实际制作液晶显示装置的方法中,工时负担大,复杂性高。

另一方面,还使用将光学膜用偏振板夹持,并通过目视进行评价的方法。然而,在该方法中,由于人的不同而发生评价基准的偏差,因此存在难以定量评价的问题。

本发明鉴于上述问题而进行,其课题在于,提供能够简便且定量地评价作为评价对象的光学膜光学特性的不均匀性的光学特性评价方法以及光学特性评价系统。

为了解决上述课题,本发明第一方面的光学特性评价方法中,基于对评价对象的光学膜以及检偏振器进行了透射的光的偏振状态的分析,评价该光学膜的光学特性的不均匀性,所述方法的特征在于,针对多个部位测量所述光学膜的相位差以及取向角,且使用表示入射光的偏振状态的矢量、和至少表示所述光学膜以及所述检偏振器的偏振特性的矩阵,基于通过下述运算式1而运算出的出射光的矢量的参数,对光学特性的不均匀性进行定量化并评价。

F2=M×F1 (运算式1)

其中,F1:入射光的斯托克斯(Stokes)矢量或者琼斯(Jones)矢量;F2:出射光的斯托克斯矢量或者琼斯矢量;M:针对评价对象的光学膜和检偏振器的穆勒(Mueller)矩阵或者琼斯(Jones)矩阵。

本发明第二方面的特征在于,在上述的光学特性评价方法中,所述出射光的矢量的参数通过下述运算式2来运算:

F2=f1×f2×F1 (运算式2)

在此,f1:针对评价对象的光学膜的穆勒矩阵或者琼斯矩阵;f2:针对检偏振器的穆勒矩阵或者琼斯矩阵。

本发明第三方面的特征在于,在上述的光学特性评价方法中,所述入射光的偏振状态用斯托克斯矢量表示,且所述光学膜以及检偏振器的偏振特性用穆勒矩阵表示。

本发明第四方面的特征在于,在上述的光学特性评价方法中,至少经过下述步骤(1)~(8),基于对光学膜进行了透射的光的偏振状态的分析,评价光学特性的不均性。

步骤1:针对评价对象的光学膜,选择规定面积的多个测量区域,针对该测量区域内包含的规定大小的各个像素,测量相位差以及取向角的步骤;

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