[发明专利]一种制造半导体器件的方法和半导体器件在审
申请号: | 201911028418.2 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN110752206A | 公开(公告)日: | 2020-02-04 |
发明(设计)人: | 闫一方 | 申请(专利权)人: | 苏师大半导体材料与设备研究院(邳州)有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60 |
代理公司: | 11589 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 王志敏 |
地址: | 221300 江苏省徐州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 衬底 半导体 硅胶板 金属板 延伸 静电 贯穿 半导体技术领域 半导体器件本体 抗静电效果 平衡层 掩膜层 屏蔽 制造 | ||
1.一种半导体器件,包括半导体衬底(1),其特征在于:所述半导体衬底(1)的上方设置有硅胶板(2),所述硅胶板(2)的上方设置有金属板(3),所述金属板(3)的上方设置有掩膜层(4),所述半导体衬底(1)的下方设置有平衡层(7)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件,其特征在于:所述硅胶板(2)的底部设置有多个延伸块(5),所述延伸块(5)延伸至半导体衬底(1)的内部,所述金属板(3)的底部设置有多个贯穿段(6),所述贯穿段(6)贯穿硅胶板(2)并延伸至半导体衬底(1)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种半导体器件,其特征在于:所述半导体衬底(1)、硅胶板(2)与金属板(3)的两侧均共同设置有环氧树脂板(8)。
4.根据权利要求2所述的一种半导体器件,其特征在于:所述延伸块(5)为硅胶材质制成,所述贯穿段(6)为绝缘材料制成。
5.一种制造半导体器件的方法,其特征在于:包括以下步骤:
S1.准备好半导体衬底(1),然后将半导体衬底(1)的表面进行酸洗,半导体衬底(1)酸洗处理之后,使用去离子水对其进行再次冲洗,然后进行干燥处理,最后将半导体衬底(1)送入到抛光设备中进行表面抛光处理;
S2.在半导体衬底(1)的表面开设与延伸块(5)和贯穿段(6)相对应的孔槽,将硅胶板(2)置于半导体衬底(1)的表面,使延伸块(5)与半导体衬底(1)卡接起来,然后再将半导体衬底(1)送入到真空环境中,同时往真空环境中通入氮气,真空环境中的氮气量到达预设值时,调节真空环境中的温度到100-120℃的范围内,然后利用压合装置将硅胶板(2)进行热压,使其紧贴在半导体衬底(1)的表面;
S3.取出压合有硅胶板(2)的半导体衬底(1),将金属板(3)置于硅胶板(2)的表面,使其贯穿段(6)延伸到半导体衬底(1)中,利用硅胶板(2)表面的温度将金属板(3)压合在硅胶板(2)的表面;
S4.在金属板(3)的表面均匀喷涂一层导电胶,然后将掩膜层(4),粘接在金属板(3)的表面,在半导体衬底(1)的底部均匀涂抹一层胶水,将平衡层(7)粘接在半导体衬底(1)的底部;
S5.将半导体衬底(1)、硅胶板(2)与金属板(3)的两侧均喷涂一层胶水,然后在其两侧粘接上环氧树脂板(8),最后将完成制作的器件送入到加热装置中,加热5-10min后取出自然冷却即可。
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