[发明专利]一种晶体颗粒度的光学检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置包括：

激光单元，用于向待测晶体发射第一激光；

检测单元，用于接收从所述待测晶体出射的第二激光，并对所述第二激光的信号强度进行检测；

其中所述第二激光的波长为所述第一激光的波长的一半。

2.根据权利要求1所述的晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置还包括：

第一滤光片组，设置在所述激光单元和所述待测晶体之间，用于过滤除波长为第一激光外的其他光波。

3.根据权利要求1所述的晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置还包括：

第二滤光片组，设置在所述待测晶体和所述检测单元之间，用于过滤除波长为第二激光外的其他光波。

4.根据权利要求1所述的晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述检测单元包括光电探测器和数据采集器；

所述光电探测器接收待测晶体出射的第二激光，获取第二激光的信号强度，并将其转化为电信号后传输给所述数据采集器；

所述数据采集器接收该电信号，并将其转化为数字信号。

5.根据权利要求1所述的晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述激光单位为纳秒、皮秒或者飞秒的激光器。

6.一种晶体颗粒度的光学检测方法，其特征在于，所述方法包括：

将第一激光通过待测晶体；

对待测晶体出射的第二激光的信号强度进行检测，其中所述第二激光的波长为所述第一激光的波长的一半。

7.根据权利要求6所述的晶体颗粒度的光学检测方法，其特征在于，所述第一激光通过待测晶体之前，所述方法还包括：

对所述第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

8.根据权利要求6所述的晶体颗粒度的光学检测方法，其特征在于，对待测晶体出射的第二激光的信号强度进行检测之前，所述方法还包括：

对所述待测晶体出射的第二激光进行过滤，除去波长为第二激光外的其他光波。

9.根据权利要求6所述的晶体颗粒度的光学检测方法，其特征在于，所述对待测晶体出射的第二激光的信号强度进行检测的具体方法为：

接收所述待测晶体出射的第二激光，获取第二激光的信号强度，并将其转化为电信号，再将该电信号转化为数字信号。