[发明专利]一种晶体颗粒度的光学检测装置及检测方法

说明书

本发明公开了一种晶体颗粒度的光学检测装置及其检测方法，属于晶体颗粒度检测技术领域，能够解决现有颗粒度测量效率低、准确度差、测量成本高的问题。所述装置通过激光单元向待测晶体发射第一激光，利用检测单元接收从待测晶体出射的第二激光，并对第二激光的信号强度进行检测，其中第二激光的波长为第一激光波长的一半。本发明利用晶体在激光的作用下能产生非线性光学效应，使激光波长缩小一半，且非线性光信号强度对应晶体颗粒度的大小，检测单元接收该非线性光信号，并对其检测得到待测晶体的颗粒度数据。本发明结构简单，测量成本低，且通过非线性晶体的非线性光学性质作为测定颗粒度的依据，测量效率高，方便快捷，且测量结果准确度高。

技术领域

本发明涉及晶体颗粒度检测技术领域，尤其是涉及一种晶体颗粒度的光学检测装置及检测方法。

背景技术

晶体颗粒度是指晶体颗粒的大小。随着纳米晶体材料在高新技术产业的广泛应用，颗粒度测量技术向测量下限低、测量范围广、测量准确度和精确度高、重现性好等方向发展。因此，对颗粒测量技术的要求也越来越高。

目前，现有技术一般通过激光粒度分析法、显微图像法、电阻法、离心沉降法等方法对晶体的颗粒度进行测量。但是，这几种测量晶体颗粒度的方法存在不同的缺点：激光粒度分析法测量结果准确度较低，且仪器造价较高；显微图像法测量的结果易受人为因素影响，仪器价格昂贵；电阻法不适合测量小于0.1μm的颗粒样品，对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦；离心沉降法测试花费时间较长，操作比较繁琐，重复性差。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种晶体颗粒度的光学检测装置及测量方法，能够解决现有的颗粒度测量方法测量效率低、准确度差、测量成本高的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种晶体颗粒度的光学检测装置，包括：

激光单元，用于向待测晶体发射第一激光；

检测单元，用于接收从所述待测晶体出射的第二激光，并对所述第二激光的信号强度进行检测；

其中所述第二激光的波长为所述第一激光的波长的一半。

作为本发明再进一步的方案：所述光学检测装置还包括：

第一滤光片组，设置在所述激光单元和所述待测晶体之间，用于过滤除波长为第一激光外的其他光波。

作为本发明再进一步的方案：所述光学检测装置还包括：

第二滤光片组，设置在所述待测晶体和所述检测单元之间，用于过滤除波长为第二激光外的其他光波。

作为本发明再进一步的方案：所述检测单元包括光电探测器和数据采集器；

所述光电探测器接收待测晶体出射的第二激光，获取第二激光的信号强度，并将其转化为电信号后传输给所述数据采集器；

所述数据采集器接收该电信号，并将其转化为数字信号。

作为本发明再进一步的方案：所述激光单位为纳秒、皮秒或者飞秒的激光器。

本发明还提供一种应用于上述任一种所述的晶体颗粒度的光学检测装置的检测方法，所述方法包括：

将第一激光通过待测晶体；

对待测晶体出射的第二激光的信号强度进行检测，其中所述第二激光的波长为所述第一激光的波长的一半。

作为本发明再进一步的方案：所述第一激光通过待测晶体之前，所述方法还包括：

对所述第一激光进行过滤，除去波长为第一激光外的其他光波。

作为本发明再进一步的方案：对待测晶体出射的第二激光的信号强度进行检测之前，所述方法还包括：