[发明专利]一种后掺杂式N型接触钝化电池有效
申请号: | 201911036683.5 | 申请日: | 2019-10-29 |
公开(公告)号: | CN110838528B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 王伟;马志杰;张一波;顾文操;盛健;张淳 | 申请(专利权)人: | 协鑫集成科技股份有限公司;协鑫集成科技(苏州)有限公司;张家港协鑫集成科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/068 | 分类号: | H01L31/068;H01L31/0288;H01L31/18 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 姚惠菱 |
地址: | 201400 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 掺杂 接触 钝化 电池 | ||
本发明公开了一种后掺杂式N型接触钝化电池,包括N型硅片、正面结构以及背面结构,背面结构包括隧穿层、n+多晶硅层、背面钝化层以及背面金属电极,隧穿层、n+多晶硅层以及背面钝化层沿渐远N型硅片的方向依次设置,N型接触钝化电池还包括本征多晶硅层和n++重掺杂区域,本征多晶硅层设于n+多晶硅层与背面钝化层之间,n++重掺杂区域贯穿本征多晶硅层,n++重掺杂区域的内端与n+多晶硅层接触,背面金属电极贯穿背面钝化层,背面金属电极的内端与n++重掺杂区域的外端接触。本发明既可以减少背面的自由载流子吸收,提升双面电池的双面率,又消除金属化区域的金属复合,进一步提升N型接触钝化电池转化效率。
技术领域
本发明设计太阳能电池领域,具体涉及一种后掺杂式N型接触钝化电池。
背景技术
参见图1,为现有技术中的N型接触钝化电池,包括N型硅片11、设于N型硅片11正面一侧的正面结构以及设于N型硅片11背面一侧的背面结构,正面结构包括p+掺杂层12、正面钝化层13以及正面金属电极14,p+掺杂层12和正面钝化层13沿渐远N型硅片11的方向依次设置,正面金属电极14贯穿正面钝化层13,正面金属电极14的内端与p+掺杂层12接触,背面结构包括隧穿层15、n+多晶硅层16、背面钝化层17以及背面金属电极18,隧穿层15、n+多晶硅层16以及背面钝化层17沿渐远N型硅片11的方向依次设置,背面金属电极18贯穿背面钝化层17,背面金属电极18的内端与n+多晶硅层16的外端接触。制作时,先沉积一层1-2nm的隧穿层,然后沉积均匀厚度的n+多晶硅层,为了保证在后续金属化过程中,金属浆料不至于烧穿n+多晶硅层,这层n+多晶硅层的厚度必须大于100nm,但n+多晶硅层的厚度越大,背面的自由载流子吸收越严重。
发明内容
本发明的目的是提供一种后掺杂式N型接触钝化电池,既可以减少背面的自由载流子吸收,提升双面电池的双面率,又消除金属化区域的金属复合,进一步提升N型接触钝化电池转化效率。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:一种后掺杂式N型接触钝化电池,包括N型硅片、设于所述N型硅片正面一侧的正面结构以及设于所述N型硅片背面一侧的背面结构,所述背面结构包括隧穿层、n+多晶硅层、背面钝化层以及背面金属电极,所述隧穿层、所述n+多晶硅层以及所述背面钝化层沿渐远所述N型硅片的方向依次设置,所述N型接触钝化电池还包括本征多晶硅层和n++重掺杂区域,所述本征多晶硅层设于所述n+多晶硅层与所述背面钝化层之间,所述n++重掺杂区域贯穿所述本征多晶硅层,所述n++重掺杂区域的内端与所述n+多晶硅层接触,所述背面金属电极贯穿所述背面钝化层,所述背面金属电极的内端与所述n++重掺杂区域的外端接触,其中,所述n+多晶硅层的厚度为10-50nm,所述本征多晶硅层的厚度为50-250nm。
进一步的,所述n++重掺杂区域的掺杂剂为磷。
进一步的,所述n++重掺杂区域为通过激光掺杂工艺形成的n++重掺杂区域。
进一步的,所述隧穿层为沉积形成的隧穿层。
进一步的,所述n+多晶硅层为沉积形成的n+多晶硅层。
进一步的,所述本征多晶硅层为沉积形成的本征多晶硅层。
进一步的,所述正面结构包括p+掺杂层、正面钝化层以及正面金属电极,所述p+掺杂层和所述正面钝化层沿渐远所述N型硅片的方向依次设置,所述正面金属电极贯穿所述正面钝化层,所述正面金属电极的内端与所述p+掺杂层接触。
进一步的,所述p+掺杂层的掺杂剂为三溴化硼。
进一步的,所述p+掺杂层为通过气载掺杂剂的方式形成的p+掺杂层。
进一步的,所述正面钝化层和所述背面钝化层均为减反钝化膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于协鑫集成科技股份有限公司;协鑫集成科技(苏州)有限公司;张家港协鑫集成科技有限公司,未经协鑫集成科技股份有限公司;协鑫集成科技(苏州)有限公司;张家港协鑫集成科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911036683.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的