[发明专利]图像质量的评估方法及装置、电子设备、存储介质在审
申请号: | 201911040753.4 | 申请日: | 2019-10-29 |
公开(公告)号: | CN110796650A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 王扬斌;张鹿鸣;王泽鹏 | 申请(专利权)人: | 杭州阜博科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T3/40;G06K9/62;G06K9/46 |
代理公司: | 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 待测图像 深度特征 像素区域 图像金字塔 目标区域 位置标识 计算机可读存储介质 图像质量评估 质量分析模型 电子设备 多个目标 人工评估 人力物力 质量分数 准确度 构建 聚合 图像 输出 分割 评估 申请 组建 | ||
1.一种图像质量的评估方法,其特征在于,包括:
将待测图像分割为多个超像素区域;
根据所述待测图像的图像金字塔,定位每个所述超像素区域在所述图像金字塔对应的位置标识;
将所述位置标识相邻的超像素区域组建成目标区域,得到所述待测图像的多个所述目标区域;
根据所述待测图像中所选取目标区域的深度特征,聚合得到所述待测图像的深度特征;
将所述待测图像的深度特征输入已构建的质量分析模型,输出所述待测图像的质量分数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述将待测图像分割为多个超像素区域之后,所述方法还包括:
去除尺寸小于预设值或超像素分数低于阈值的所述超像素区域。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述去除尺寸小于预设值或超像素分数低于阈值的所述超像素区域之前,所述方法还包括:
利用已知图像特征的图像数据训练线性判别分析模型,得到所述线性判别分析模型的转移矩阵;
提取每个所述超像素区域的外观特征;
根据所述外观特征与所述转移矩阵,计算每个所述超像素区域的超像素分数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测图像的图像金字塔,定位每个所述超像素区域在所述图像金字塔对应的位置标识,包括:
对所述待测图像进行多尺度变换,构建所述待测图像的图像金字塔;
针对每个超像素区域,若所述超像素区域的90%以上被所述图像金字塔的一金字塔单元覆盖,则所述超像素区域的位置标识为所述金字塔单元的位置标识。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述位置标识相邻的超像素区域组建成目标区域,得到所述待测图像的多个所述目标区域包括:
随机选择一起始的所述超像素区域,在空间相邻的超像素区域之间进行随机游走;
将所述位置标识相邻的超像素区域组建成一所述目标区域,直到所述目标区域的超像素区域数量达到设定值,构建下一所述目标区域。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测图像中所选取目标区域的深度特征,聚合得到所述待测图像的深度特征之前,所述方法还包括:
根据每个所述目标区域的外表特征,计算每个所述目标区域的目标质量分数;
按照所述目标质量分数的高低对所述目标区域进行排序,选取所述目标质量分数最大的前若干个目标区域。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述待测图像中所选取目标区域的深度特征,聚合得到所述待测图像的深度特征,包括:
针对所选取的每一所述目标区域,根据所述目标区域中每个超像素区域的深度特征,通过统计方法聚合得到所述目标区域的深度特征;
将所述待测图像中所选取的目标区域的深度特征,拼接得到所述待测图像的深度特征。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述待测图像的深度特征输入已构建的质量分析模型,输出所述待测图像的质量分数,包括:
将所述待测图像的深度特征输入已训练的softmax逻辑回归模型,输出所述待测图像的质量分数。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行权利要求1-8任意一项所述的图像质量的评估方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序可由处理器执行以完成权利要求1-8任意一项所述的图像质量的评估方法。
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