[发明专利]用于测量受测试装置的相位噪声的设备在审

专利信息
申请号: 201911044482.X 申请日: 2019-10-30
公开(公告)号: CN111123068A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 周楙轩;张智贤;沈瑞滨;张雅婷 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;H03M3/00
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 测试 装置 相位 噪声 设备
【权利要求书】:

1.一种用于测量受测试装置的相位噪声的设备,包括:

第一相位检测器,经配置以从所述受测试装置接收第一信号且从时序产生器接收第一时钟信号,其中所述第一相位检测器进一步经配置以测量所述第一信号与所述第一时钟信号之间的相位误差且输出第一相位误差信号;

第一电荷泵,经配置以接收所述第一相位误差信号且产生第一电流;

第一电容器,经配置以接收所述第一电流且提供第一电压;

第一电压控制延迟线,经配置以接收第二时钟信号和所述第一电压,且输出指示与所述第一电压成比例的延迟的第一延迟信号;以及

第一1位时间-数字转换器,经配置以接收第三时钟信号和所述第一延迟信号,以及如果所述第一延迟信号领先于所述第三时钟信号时输出第一逻辑值且如果所述第一延迟信号落后于所述第三时钟信号时输出第二逻辑值。

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