[发明专利]触摸检测方法、MCU、触控设备及存储介质

权利要求书

1.一种触摸检测方法，其特征在于，微控制单元MCU通过N个通道与N个触摸按键连接，所述N个通道与所述N个触摸按键一一对应，N为大于或等于1的整数，所述方法包括：

所述MCU获取低功耗模式设置指令；

所述MCU根据所述低功耗模式设置指令进入低功耗模式；

所述MCU在所述低功耗模式下对至少一个所述触摸按键进行初始触摸检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述MCU包括：初始触摸检测电路，所述初始触摸检测电路为纯硬件电路，相应的，所述MCU在所述低功耗模式下对至少一个所述触摸按键进行初始触摸检测，包括：

所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对至少一个所述触摸按键进行初始触摸检测。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述MCU还包括：内核，所述内核和所述初始触摸检测电路连接；相应的，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对至少一个所述触摸按键进行初始触摸检测，包括：

针对至少一个所述触摸按键中的任一个触摸按键，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对所述触摸按键进行m次初始触摸检测，m为大于1的整数；

相应的，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对至少一个所述触摸按键进行初始触摸检测之后，还包括：

针对至少一个所述触摸按键中的任一个触摸按键，若所述初始触摸检测电路检测到触摸操作的初始触摸检测的数量达到n，所述初始触摸检测电路控制所述MCU进入正常功耗模式，所述内核在所述正常功耗模式下对所述触摸按键进行进一步地触摸检测。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对所述触摸按键进行m次初始触摸检测，包括：

针对任一次所述初始触摸检测，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下判断所述触摸按键对应通道上的电压是否小于第一预设阈值；

所述内核在所述正常功耗模式下对所述触摸按键进行进一步地触摸检测，包括：

针对任一个所述触摸按键，所述内核在所述正常功耗模式下判断所述触摸按键对应通道上的电压是否小于第二预设阈值；

其中，所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述MCU还包括：唤醒模块，所述唤醒模块的两端分别与所述内核和所述初始触摸检测电路连接；所述初始触摸检测电路控制所述MCU进入正常功耗模式，包括：

所述初始触摸检测电路向所述唤醒模块发送指示信息；

所述唤醒模块根据所述指示信息生成唤醒信号，并向所述内核发送所述唤醒信号；

所述内核根据所述唤醒信号唤醒所述MCU。

6.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述初始触摸检测电路控制所述MCU进入正常功耗模式，包括：

所述初始触摸检测电路生成唤醒信号，并向所述内核发送所述唤醒信号；

所述内核根据所述唤醒信号唤醒所述MCU。

7.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述MCU还包括：第一计时器和第二计时器，所述第一计时器和所述初始触摸检测电路连接，所述初始触摸检测电路在所述低功耗模式下对所述触摸按键进行m次初始触摸检测，包括：

所述初始触摸检测电路按照所述第一计时器上设置的检测频率，在所述低功耗模式下对所述触摸按键进行m次初始触摸检测；

所述内核在所述正常功耗模式下对所述触摸按键进行进一步地触摸检测，包括：

所述内核按照所述第二计时器上设置的检测频率，在所述正常功耗模式下对所述触摸按键进行进一步地触摸检测。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一计时器上设置的检测频率小于所述第二计时器上设置的检测频率。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一计时器和所述第二计时器的工作电压为第一电压，所述初始触摸检测电路的工作电压为第二电压，所述第一电压大于所述第二电压。