[发明专利]中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种中子管寿命测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；

对各所述中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；

基于所述中子管性能退化模型处理所述待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到所述名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及所述名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；

根据所述中子管性能退化模型、所述第一等效损伤时刻、所述第二等效损伤时刻和所述待测中子管的额定产额，得到所述待测中子管的等效寿命，具体包括：

处理所述中子管性能退化模型在所述第一等效损伤时刻和所述第二等效损伤时刻之间的积分；

将所述积分的结果与所述额定产额的比值，确认为等效寿命，并基于以下公式获取所述等效寿命：

其中，表示所述等效寿命；表示所述第一等效损伤时刻；表示所述第二等效损伤时刻；表示在时刻的中子产额；表示时间；表示额定产额。

2.根据权利要求1所述的中子管寿命测试方法，其特征在于，获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额的步骤中，包括步骤：

获取所述待测中子管在工作过程中的若干时刻的累计中子计数；

根据各所述累计中子计数，得到各时刻对应的所述中子产额。

3.根据权利要求2所述的中子管寿命测试方法，其特征在于，获取所述待测中子管在工作过程中的若干时刻的累计中子计数步骤中：

每间隔预设时长获取一次所述待测中子管在所述预设时长内的累计中子计数，直至得到预设次数的累计中子计数。

4.根据权利要求1所述的中子管寿命测试方法，其特征在于，对各所述中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型步骤中：

基于线性回归方法或非线性回归方法对各所述中子产额进行回归建模处理，得到所述中子管性能退化模型。

5.一种中子管寿命测试装置，其特征在于，包括：

中子产额获取模块，用于获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；

回归模块，用于对各所述中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；

等效损伤时刻获取模块，用于基于所述中子管性能退化模型处理所述待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到所述名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及所述名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；

等效寿命获取模块，用于根据所述中子管性能退化模型、所述第一等效损伤时刻、所述第二等效损伤时刻和所述待测中子管的额定产额，得到所述待测中子管的等效寿命，具体包括：处理所述中子管性能退化模型在所述第一等效损伤时刻和所述第二等效损伤时刻之间的积分，将所述积分的结果与所述额定产额的比值，确认为等效寿命，并基于以下公式获取所述等效寿命：

其中，表示所述等效寿命；表示所述第一等效损伤时刻；表示所述第二等效损伤时刻；表示在时刻的中子产额；表示时间；表示额定产额。

6.根据权利要求5所述的中子管寿命测试装置，其特征在于，所述中子产额获取模块包括：

中子计数获取单元，用于获取所述待测中子管在工作过程中的若干时刻的累计中子计数；

中子产额获取单元，用于根据各所述累计中子计数，得到各时刻对应的所述中子产额。

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任意一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任意一项所述方法的步骤。