[发明专利]中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。

技术领域

本申请涉及器件可靠性测试技术领域，特别是涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

中子管是一种在石油测井、在线成分分析、爆炸物与毒品检测等领域使用非常广泛的关键核心部件。随着各领域的技术发展，对中子管也提出了高可靠、长寿命的要求，如何对中子管寿命进行快速有效的测试与评估成为行业关注焦点。

传统中子管的寿命测试方法通过长时间工作来验证产品的寿命。中子管在工作时会向外发射中子，因此对中子管寿命进行测试时需要对中子辐射进行屏蔽，取得相关辐射安全许可，导致中子管测试场地具有特殊性。目前具备中子管寿命测试条件与资质的场地资源十分有限，难以长时间开展中子管寿命测试。另外，对于一些长寿命产品，常通过建立加速寿命模型开展加速寿命试验，该方法虽然可以一定程度上缩短试验时间，但需要投入一定数量的试验样品进行分组试验，从而建立加速寿命模型。而中子管产品成本高，传统加速寿命试验方法需要的中子管试验样品数量较多，试验耗资巨大，在实际应用中也面临诸多困难。因此，在中子管寿命测试与评估的实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：传统中子管测试技术测试耗时长，测试投入成本高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够降低测试时长和投入成本的中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种中子管寿命测试方法，包括以下步骤：

获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；

对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；

基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；

根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命。

在其中一个实施例中，获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额的步骤中，包括步骤：

获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的累计中子计数；

根据各累计中子计数，得到各时刻对应的中子产额。

在其中一个实施例中，获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的累计中子计数步骤中：

每间隔预设时长获取一次待测中子管在预设时长内的累计中子计数，直至得到预设次数的累计中子计数。

在其中一个实施例中，对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型步骤中：

基于线性回归方法或非线性回归方法对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型。

在其中一个实施例中，根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命的步骤中，包括步骤：

处理中子管性能退化模型在第一等效损伤时刻和第二等效损伤时刻之间的积分；