[发明专利]一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统

权利要求书

1.一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统，其特征在于，包括以下步骤：

1)将参与到LED晶圆点测生产的LED芯片测试机与MES系统进行联网，进行实时数据交互；

2)在MES系统中注册LED芯片测试机程序参数的基准档案；

3)在LED芯片测试机中建立参数输入程序和生产调用程序，通过参数输入程序输入对应的测试参数，参数输入完毕后打开生产调用程序；

4)打开生产调用程序后MES系统调用参数输入程序输入的测试参数，与MES系统中的基准档案记性对比，当输入的测试参数与基准档案中的参数无法对应，设备报错，生产停止，当输入的测试参数与基准档案中的参数配对正确，LED芯片测试机将测试参数载入，操作人员按下设备开始按钮启动测试生产；

5)测试生产过程中，设备持续采集LED晶圆的测试数据，并且与输入的测试参数进行对比，当设备没有采集到测试数据，生产发生异常，设备报错，当设备持续有检测数据录入，生产过程正常进行，直至产品全部检测完成；

6)当所有LED晶圆完成检测，LED芯片测试机通过Port command方式发送指令给MES系统，系统自动开始采集当前晶圆测试结果数据。

2.根据权利要求1所述的一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统，其特征在于，在步骤4)中，当输入的测试参数与基准档案中的参数无法对应，LED芯片测试机的操作系统中弹出错误信息框Error Message，并且显示有“机台数据信息判断错误”的红色字样。

3.根据权利要求1所述的一种基于MES系统的LED晶圆点测自动化系统，其特征在于，步骤2)录入至MES系统中的程序参数至少包括机台类型、测试项目、参数最大值与最小值。