[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201911056805.7 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN111129149A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 邹亚叡;罗宗祐;颜智洋;黄文宏;刘致为 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其特征在于,包括:

一基板;

一第一半导体层和一第二半导体层,该第一半导体层和该第二半导体层在该基板上方,该第一半导体层在一第一方向上位于该第二半导体层上方;

一栅极结构,该栅极结构围绕该第一半导体层和该第二半导体层;

一源极/漏极结构,该源极/漏极结构从不同于该第一方向的一第二方向连接到该第一半导体层;以及

一第一缓冲层,该第一缓冲层将该源极/漏极结构与该第二半导体层分隔。

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