[发明专利]直流微电阻测量方法及装置

说明书

本申请提供了一种直流微电阻测量方法及装置，包括：首先根据待测电阻的功率通入预设电流，记录所述待测电阻在预设时间内的阻值变化和温度变化，并得到多个第一阻值和多个与各个所述第一阻值对应的第一温度值。其次，根据多个所述第一阻值和所述第一温度值确定所述待测电阻的温度变化曲线。最后，将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，从而可确定所述待测电阻的性能参数。本申请不仅能够校正温度对标准电阻的影响，还提高了测量的可靠性，测试过程更加便捷快速。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别是涉及直流微电阻测量方法及装置。

背景技术

在生产和实践中，常常需要对微小电阻进行精确测量。例如电机和变压器的线圈电阻，电闸接线端子和电缆插座的接触电阻，大功率电气开关的接触电阻等。这些电阻的阻值一般都在mΩ级甚至μΩ级。一般的指针或数字万用表可以实现对10Ω-100MΩ范围内电阻值的精确测量。但对于1Ω以下的电阻(即微电阻)，指针或数字万用表的测量值会出现严重偏差。

目前，针对微电阻的阻值测量大多采用微电阻测试仪进行测量。通过微电阻测试仪可以实现对微小电阻测量，但采用微电阻测试仪按照现有的测试方法在测量时忽略了不同电阻温度系数对其阻值的影响，即忽略了电阻在测量时产生温升，使其阻值发生变化，造成测量偏差。

发明内容

基于此，有必要针对现有微电阻测试仪按照现有的测试方法在测量时忽略了电阻在测量时产生的温升，使其阻值发生变化，从而造成测量偏差的问题，提供一种直流微电阻测量方法及装置。

一种直流微电阻测量方法，包括：

根据待测电阻的功率通入预设电流，记录所述待测电阻在预设时间内的阻值变化和温度变化，并得到多个第一阻值和多个与各个所述第一阻值对应的第一温度值；

根据多个所述第一阻值和所述第一温度值确定所述待测电阻的温度变化曲线；

将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，以确定所述待测电阻的性能参数。

在其中一个实施例中，所述将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，以确定所述待测电阻的性能参数的步骤包括：

获取多个所述预设温度变化曲线；

将所述温度变化曲线与多个所述预设温度变化曲线分别进行比对，若温度变化曲线与多个所述预设温度变化曲线中的任意一个所述预设温度变化曲线重合，则确定所述待测电阻的性能参数与该所述预设温度变化曲线对应的电阻的性能参数相同。

在其中一个实施例中，所述将所述温度变化曲线与多个预设温度变化曲线进行比对，以确定所述待测电阻的性能参数的步骤之前，所述方法还包括：

将不同材料的标准电阻分别通入所述预设电流，记录各个所述标准电阻在所述预设时间内的阻值变化和温度变化，并得到多个第二阻值和多个与各个所述第二阻值对应的第二温度值；

根据多个所述第二阻值和多个所述第二温度值确定各个所述标准电阻的温度变化曲线，并得到多个所述预设温度变化曲线。

在其中一个实施例中，根据多个所述第二阻值和多个所述第二温度值确定各个所述标准电阻的温度变化曲线，并得到多个所述预设温度变化曲线的步骤包括：

根据多个所述第二阻值和多个所述第二温度值按照预设算法确定各个所述标准电阻的温度变化曲线，并得到多个所述预设温度变化曲线，所述预设算法包括负温度系数预设算法和正温度系数预设算法。

在其中一个实施例中，所述负温度系数预设算法的公式如下：