[发明专利]一种芯片测试治具

权利要求书

1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括：

底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；

上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；

压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；

按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；

手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；

卡合件，与所述手柄连接，包括鱼钩件和卡扣；

所述鱼钩件的一端固定在所述手柄的自由端上，另一端呈钩状；所述卡扣具有夹角为钝角两条边，所述两条边分别为呈口型的按压部和呈凹型的扣合部，所述卡扣通过设置在所述按压部和扣合部的相交边上的铰接点与所述上盖前侧面的凹槽内壁铰接，所述卡扣上连接有第一弹簧的一端，所述第一弹簧的另一端连接在所述上盖上，所述第一弹簧的弹性力使所述扣合部远离所述上盖；

其中，按压所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件勾住所述卡扣的按压部向下运动，使所述卡扣的扣合部向靠近所述上盖的方向运动，所述第一弹簧受到挤压；继续按压所述手柄的自由端至贴近所述上盖，所述鱼钩件脱离所述卡扣的按压部；

上抬所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件脱离所述按压部，所述按压部向靠近所述上盖的方向运动，使所述扣合部脱离所述底座。

2.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：还包括两个支撑块，所述两个支撑块相对设置，固定在所述上盖的上端面两侧边的中心线上，用于安装所述按压件，且所述按压件于两个所述支撑块之间转动。

3.根据权利要求2所述的芯片测试治具，其特征在于：所述两个支撑块相对的一侧侧壁上安装有球头柱塞。

4.根据权利要求1-3任一所述的芯片测试治具，其特征在于：所述手柄本体上设有开孔，以方便按压手柄时所述卡扣的按压部穿过所述手柄本体。

5.根据权利要求4所述的芯片测试治具，其特征在于：所述卡扣包括滚轴，所述滚轴连接在所述按压部上，用于鱼钩件下压时，与所述鱼钩件相挤压或卡合。

6.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：所述按压件为凸轮状结构。

7.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：

还包括推板，所述推板与所述压板靠近手柄的一侧连接；

其中，按压手柄自由端带动所述按压件挤压所述推板，使所述推板带动所述压板压紧测试芯片。

8.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述推板上靠近所述压板的一侧设置有若干定位柱，所述定位柱与所述压板上开设的定位孔间隙配合，所述压板与所述推板之间设置有若干第二弹簧。

9.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述上盖的四周开设有活动孔，所述推板靠近所述压板一侧的边缘设置有若干限位柱，所述底座上设置有若干与限位柱匹配的限位套，所述限位柱穿过活动孔与所述限位套间隙配合。

10.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述上盖上开设有若干安装槽，所述推板靠近压板的一侧边缘连接有若干第三弹簧的一端，所述第三弹簧的另一端连接在所述安装槽内。