[发明专利]一种芯片测试治具

说明书

本发明提供了一种芯片测试治具，包括：底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片安装槽配合，用于压紧测试芯片；按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；卡合件，与所述手柄连接。本发明通过在上盖上设置挤压件、手柄及连接在手柄上的鱼钩件，使上盖与底座扣合，从而将测试芯片压紧，省力方便。

技术领域

本发明涉及FCT测试领域，尤指一种芯片测试治具。

背景技术

在SIP-FCT站测试过程中，作业员需要取放测试芯片，然后盖上治具上盖进行测试。这样就要求扣合上盖的力不能太大，易扣合，否则就会造成人员操作上的费力，不符合人体工程学，影响测试的稳定，最后导致生产效率低下。

先前使用的测试治具是通过把手将上盖扣合的，如果将测试治具上的测试针的数量改为600，那么在SIP-FCT站测试过程中，作业员在取放测试芯片时，通过把手盖上治具的上盖，扣合上盖时会很费力，不易扣合，影响生产效率；测试完成后，打开上盖时，需要很大的力打开，不易操作，影响测试工时，为了解决这一技术问题，提出一种芯片测试治具。

发明内容

本发明将解决现有治具在测试芯片时，扣合治具费力的技术问题，提供一种芯片测试治具。

本发明提供的技术方案如下：

一种芯片测试治具，其特征在于，包括：

底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；

上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；

压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；

按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；

手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；

卡合件，与所述手柄连接。

在本技术方案中，通过在上盖上设置挤压件，挤压件在挤压压板时形成杠杆，同时上盖与底座之间连接形成一个支点，在将上盖与底座扣合时，向下按压手柄带动挤压件在旋转，这样就会在原有的上盖上再形成新的杠杆，以保证在将上盖与底座扣合时，不需要太费力就能够将上盖与底座扣合在一起。

优选地，还包括两个支撑块，所述两个支撑块相对设置，固定在所述上盖的上端面两侧边的中心线上，用于安装所述按压件，且所述按压件于两个所述支撑块之间转动。

在本技术方案中，两个支撑块用于安装挤压件，支撑块的材质与上盖的材质不一样，支撑块的强度高于上盖的强度，确保不会因经常下压手柄的时候，支撑块在受到下压的力过大而发生变形或损坏。

优选地，所述两个支撑块相对的一侧侧壁上安装有球头柱塞。

在本技术方案中，支撑块上的球头柱塞在上盖处于自然状态下的时候，手柄不会因重力直接垂下来，这样在后期扣合上盖时，就不需要调节手柄来扣合上盖，而球头柱塞起到阻挡的作用，防止手柄在上盖处于自然状态时过度向下移动。

优选地，卡合件包括：

鱼钩件，所述鱼钩件的一端固定在所述手柄的自由端上，另一端呈钩状；