[发明专利]磁力线遮蔽控制反应腔室磁场的蚀刻机结构在审

专利信息
申请号: 201911073017.9 申请日: 2019-11-05
公开(公告)号: CN112768333A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 林志隆;蔡兆哲;陈俊龙 申请(专利权)人: 聚昌科技股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张琳
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 磁力线 遮蔽 控制 反应 磁场 蚀刻 结构
【权利要求书】:

1.一种磁力线遮蔽控制反应腔室磁场的蚀刻机结构,其特征在于其包括:

第一等离子体反应腔体,其具有第一反应腔室;

第一线圈模块,其是环绕设置于该第一反应腔室的外围;以及

第一磁力线遮蔽模块,其是环绕设置于该第一线圈模块的外围,用以阻挡及/或反射该第一线圈模块的磁力线及/或电磁波向外扩散且控制该磁力线的形状。

2.根据权利要求1所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中该第一磁力线遮蔽模块具有多个遮蔽百叶,且每一该遮蔽百叶的长度,大于或等于该第一线圈模块的垂直高度。

3.根据权利要求1或2所述的蚀刻机结构,其特征在于其进一步具有:

第二等离子体反应腔体,其具有与该第一反应腔室相连通的第二反应腔室;

第二线圈模块,其是环绕设置于该第二反应腔室的外围;以及

第二磁力线遮蔽模块,其是环绕设置于该第二线圈模块的外围,用以阻挡及/或反射该第二线圈模块的磁力线及/或电磁波向外扩散且控制该磁力线的形状。

4.一种磁力线遮蔽控制反应腔室磁场的蚀刻机结构,其特征在于其包括:

第一等离子体反应腔体,其具有第一反应腔室;

第一线圈模块,其是环绕设置于该第一反应腔室的外围;

第二等离子体反应腔体,其具有与该第一反应腔室相连通的第二反应腔室;

第二线圈模块,其是环绕设置于该第二反应腔室的外围;以及

第二磁力线遮蔽模块,其是环绕设置于该第二线圈模块的外围,用以阻挡及/或反射该第二线圈模块的磁力线及/或电磁波向外扩散且控制该磁力线的形状。

5.根据权利要求3或4所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中该第二磁力线遮蔽模块具有多个遮蔽百叶,且每一该遮蔽百叶的长度,大于或等于该第二线圈模块的垂直高度。

6.根据权利要求2或5所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中所述遮蔽百叶的开启或关闭是借由控制单元所控制。

7.根据权利要求6所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中该控制单元是对所述遮蔽百叶进行全区域控制。

8.根据权利要求6所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中该控制单元是对所述遮蔽百叶进行2等分区域控制。

9.根据权利要求6所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中该控制单元是对所述遮蔽百叶进行4等分区域控制。

10.根据权利要求7至9其中之一项所述的蚀刻机结构,其特征在于:其中任一该区域控制的所述遮蔽百叶,其底部具有百叶齿轮与齿盘的齿排相滑动结合,且该齿盘是滑动结合于滑轨上,又该齿盘的齿排通过马达的马达齿轮的带动,且在该控制单元控制该马达正、逆转的情况下,达成该遮蔽百叶的开启或闭合。

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