[发明专利]非易失性存储器装置和非易失性存储器系统

权利要求书

1.一种非易失性存储器装置，包括：

字线；

位线；

存储器单元阵列，其包括位于所述字线和所述位线之间的交叉区域处的第一存储器单元；

字线电压产生电路，其被配置为产生编程电压，所述编程电压被提供给所述字线；

行解码器电路，其被配置为从所述字线电压产生电路接收所述编程电压，并被配置为向所述字线提供所述编程电压；

验证电路，其被配置为响应于验证对所述第一存储器单元的编程的成功或失败而产生验证信号；以及

控制电路，其被配置为响应于所述验证信号将所述编程电压施加到所述第一存储器单元，并且被配置为响应于所述验证信号中断所述编程电压。

2.如权利要求1所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制电路包括：

控制器，其被配置为针对多个循环中的每一个单独地施加所述编程电压，并且被配置为针对所述多个循环中的每一个产生递增计数信号，以及

编程电压调节器，其被配置为接收所述递增计数信号，并配置为向所述字线电压产生电路提供步进控制信号，

其中，所述字线电压产生电路被配置为根据所述步进控制信号来调节所述编程电压。

3.如权利要求2所述的非易失性存储器装置，其中，所述编程电压调节器包括：

循环计数器，其被配置为接收所述递增计数信号以产生计数信号，以及

解码器，其被配置为接收所述计数信号并被配置为根据所述计数信号产生所述步进控制信号。

4.如权利要求3所述的非易失性存储器装置，其中，所述循环计数器被配置为响应于接收到所述递增计数信号，对所述多个循环的次数进行计数以产生所述计数信号。

5.如权利要求2所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制器被配置为将编程电压激活信号发送到所述字线电压产生电路，并且被配置为将编程状态激活信号发送到所述行解码器电路，

所述字线电压产生电路被配置为响应于所述编程电压激活信号产生所述编程电压，以及

所述行解码器电路被配置为响应于所述编程状态激活信号将所述编程电压提供给所述字线。

6.如权利要求5所述的非易失性存储器装置，其中，所述多个循环包括第一循环和紧接在所述第一循环之后的第二循环，以及

所述验证电路被配置为在所述第二循环期间验证所述第一循环的编程的成功或失败，并且被配置为将成功信号或失败信号发送到所述控制器。

7.如权利要求6所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制器被配置为响应于接收到所述失败信号而向所述编程电压调节器发送递增计数信号。

8.如权利要求6所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制器被配置为响应于接收到所述成功信号而去激活所述编程状态激活信号。

9.如权利要求6所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制器被配置为响应于接收到所述成功信号而去激活所述编程电压激活信号。

10.如权利要求6所述的非易失性存储器装置，其中，所述控制器被配置为响应于接收到所述成功信号而去激活所述编程状态激活信号和所述编程电压激活信号。

11.如权利要求1所述的非易失性存储器装置，其中，所述验证电路被配置为从所述控制电路接收扫描开始信号，并且在接收到所述扫描开始信号之后，被配置为开始验证对所述第一存储器单元的编程的成功或失败。

12.如权利要求1所述的非易失性存储器装置，其中，所述存储器单元阵列包括在所述字线和所述位线之间的所述交叉区域中布置的第二存储器单元，所述第二存储器单元与所述第一存储器单元不同，以及

所述验证电路被配置为并行地验证所述第一存储器单元和第二存储器单元。