[发明专利]发光组件有效
申请号: | 201911075803.2 | 申请日: | 2019-11-06 |
公开(公告)号: | CN112310254B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 郭修邑 | 申请(专利权)人: | 隆达电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/10 | 分类号: | H01L33/10;H01L33/44 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 组件 | ||
1.一种发光组件,其特征在于,包含:
一堆叠结构,包含:
一P型半导体层;
一N型半导体层,位于该P型半导体层上;
一发光层,位于该P型半导体层与该N型半导体层之间;
一N型电极,位于该N型半导体层上;
一N型接触层,位于该N型半导体层与该N型电极之间且包含N型掺杂;
一P型电极,位于该P型半导体层上;
一N型接触垫,位于该N型电极上;
一P型接触垫,位于该P型电极上;以及
一半导体反射器,位于该发光层及该N型接触层之间,该半导体反射器包括多个周期,各该周期包含至少一第一层及至少一第二层,该第一层的折射率不同于该第二层的折射率,该N型半导体层是N型磷化铝镓铟(AlGaInP)层,该N型接触层是N型砷化镓(GaAs)层,该半导体反射器的第一层包括AlxGa1-xAs,该半导体反射器的第二层包括AlyGa1-yAs,其中0x1,0y1,且该N型半导体层、该N型接触层及该半导体反射器皆包含Ga元素,且该N型接触层直接接触该N型半导体层或该半导体反射器;以及
一第一绝缘层,覆盖该堆叠结构的至少多个侧壁。
2.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该P型半导体层具有背对该半导体反射器的一顶面,且该顶面为一粗糙面。
3.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该第一绝缘层的折射率小于该P型半导体层的折射率。
4.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该第一绝缘层延伸至该P型半导体层的一顶面。
5.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该第一绝缘层覆盖该堆叠结构的一底面,且露出该N型接触垫的一底部及该P型接触垫的一底部。
6.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该N型半导体层具有一第一部分及一第二部分,该第二部分通过该半导体反射器与该第一部分分开。
7.根据权利要求2所述的发光组件,其特征在于,该第一绝缘层延伸至覆盖该粗糙面。
8.根据权利要求7所述的发光组件,其特征在于,该第一绝缘层的背对该P型半导体层的一顶面的形状相似于该粗糙面的形状。
9.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,该半导体反射器的该第一层与该第二层包含铝,且该第一层的铝的原子百分比不同于该第二层的铝的原子百分比。
10.根据权利要求1所述的发光组件,其特征在于,还包含一第二绝缘层,该第二绝缘层覆盖该第一绝缘层,其中该第二绝缘层的折射率不同于该第一绝缘层的折射率。
11.根据权利要求10所述的发光组件,其特征在于,该第二绝缘层的折射率小于该第一绝缘层的折射率。
12.根据权利要求4所述的发光组件,其特征在于,还包含一第二绝缘层,该第二绝缘层覆盖该第一绝缘层,其中该第二绝缘层的折射率不同于该第一绝缘层的折射率。
13.根据权利要求12所述的发光组件,其特征在于,该第二绝缘层的折射率小于该第一绝缘层的折射率。
14.根据权利要求7所述的发光组件,其特征在于,还包含一第二绝缘层,该第二绝缘层覆盖该第一绝缘层,其中该第二绝缘层的折射率不同于该第一绝缘层的折射率。
15.根据权利要求14所述的发光组件,其特征在于,该第二绝缘层的折射率小于该第一绝缘层的折射率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于隆达电子股份有限公司,未经隆达电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911075803.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像传感器、用于图像传感器的半导体结构及其制造方法
- 下一篇:衣物处理装置