[发明专利]一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置有效

专利信息
申请号: 201911077253.8 申请日: 2019-11-06
公开(公告)号: CN111122507B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 徐凯源;柴立群;刘昂;何宇航;陈宁;李强;高波;魏小红;万道明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G06F17/14
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 曹鹏飞
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 离散 变换 光学 平板 方法 装置
【说明书】:

发明公开了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置,所述方法包括对含噪波前位相Wo进行预处理,得到扩展矩阵W;对扩展矩阵W进行二维离散小波分解,得到系数向量Co;基于滤除层序号数N对系数向量Co进行阈值降噪,得到降噪后的系数向量Ct;基于降噪后的系数向量Ct进行二维离散小波重构,得到降噪后扩展矩阵W';对降噪后扩展矩阵W'进行后处理,得到降噪后波前位相Wt。本发明提供的基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法和装置,不需要额外硬件,不增加特殊调整步骤,可有效滤除高精度平板干涉测量时寄生干涉现象引入的噪声位相。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域,更具体的说是涉及一种基于离散小波变 换的光学平板波前的降噪方法和装置。

背景技术

光学平板在各类复杂光学系统中有着广泛的应用,透、反射波前是衡量 高精度光学平板元件性能的重要离线参数。目前,该参数通常采用干涉技术 完成定量测量,平板波前质量高、平行度精度好的情况,在干涉检测时,一 般存在由多次反射引起的寄生干涉现象,该现象会在测试结果中引入周期性 的噪声位相,为提高测量结果的置信度与可用性,必须对噪声位相进行降噪 处理。

针对这一问题,Chiayu Ai与James C.Wyant提出了匹配腔角压制寄生干涉 场光强的调整方法,Chiayu Ai等提出了采用短相干激光器的干涉方法,Leslie L.Deck提出了采用可控波长移相激光器的傅里叶谱干涉分析方法,徐建程等 提出了类似的傅里叶频谱分析方法,在测量反射波前时,也可通过在平板背 面涂抹凡士林抑制寄生干涉。但是,上述方法或引入特殊调整步骤,或需要 额外硬件,或存在污染风险,实用中均存在各自局限性。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪 方法和装置,不需要额外硬件,不增加特殊调整步骤,可有效滤除高精度平 板干涉测量时寄生干涉现象引入的噪声位相。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种基于离散小波变换的光学平板波前的降噪方法,包括:

S1:对含噪波前位相Wo进行预处理,得到扩展矩阵W;

S2:对扩展矩阵W进行二维离散小波分解,得到系数向量Co

S3:基于滤除层序号数N对系数向量Co进行阈值降噪,得到降噪后的系 数向量Ct

S4:基于降噪后的系数向量Ct进行二维离散小波重构,得到降噪后扩展 矩阵W';

S5:对降噪后扩展矩阵W'进行后处理,得到降噪后波前位相Wt

优选的,步骤S1具体包括:

对含噪波前位相Wo进行复制,得到W1~W8

相对Wo分别平移W1~W8,使噪声位相特征连续,取互不交叠部分,得到 填充矩阵W1_u~W8_u

将填充矩阵W1_u~W8_u与Wo拼接,得到Wo';

旋转Wo',使噪声位相方向角α满足|α-90|10°,得到Wo

以Wo最大内接矩形为掩模板,取掩模板内数据,得到扩展矩阵W。

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