[发明专利]薄膜键盘PCBA测试装置及方法

权利要求书

1.一种薄膜键盘PCBA测试装置，其特征在于，包括上位机、测试治具和电源；所述测试治具包括内置测试板、电源接口、测试开关、上位机接口和探针接口，电源接口、测试开关和探针接口均连接于内置测试板，上位机接口通过治具探针连接于薄膜键盘PCBA的USB接口探点；

所述测试治具通过治具探针连接薄膜键盘PCBA的金手指，治具探针连接于探针接口，通过电源接口连接电源，通过上位机接口连接上位机；所述测试治具通过测试开关启动，对PCBA进行测试，实时将测试数据上传上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。

2.根据权利要求1所述的薄膜键盘PCBA测试装置，其特征在于，所述内置测试板包括MCU、电源接口连接器、电压转换单元、治具探针连接器和若干选通开关单元；

所述测试开关连接于MCU；

所述电源接口连接器连接电压转换单元为MCU和若干选通开关单元供电；

所述治具探针连接器引脚引出作为探针接口，并将PCBA键行列分别连接于不同的选通开关单元输入端，选通开关单元公共端全部短接在一起；

所述选通开关单元的使能端和选通控制端均连接于MCU，MCU控制PCBA键行列的短路导通，测试数据同步上传给上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。

3.根据权利要求1所述的薄膜键盘PCBA测试装置，其特征在于，所述测试治具还包括固件更新接口，所述内置测试板还包括固件更新接口连接器，连接于MCU。

4.一种薄膜键盘PCBA测试方法，利用权利要求1-3所述的测试装置进行测试，其特征在于，包括步骤：

(1)将电源插入测试治具电源接口；

(2)测试治具上位机接口连接上位机；

(3)测试治具探针接口连接治具探针，治具探针连接PCBA金手指；

(4)上位机测试程序打开，再按测试治具上的测试开关进行测试。

5.根据权利要求4所述的薄膜键盘PCBA测试方法，其特征在于，测试前还包括通过固件更新接口将下位机程序烧录至测试治具的MCU。

6.根据权利要求5所述的薄膜键盘PCBA测试方法，其特征在于，所述下位机程序包括步骤：

(1)开始程序，进行初始化；

(2)判断测试开关是否打开；

(3)若是，则运行行列短路程序。

7.根据权利要求4所述的薄膜键盘PCBA测试方法，其特征在于，所述上位机测试程序包括步骤：

(1)开始程序，进行初始化；

(2)判断测试装置接入是否正常；

(3)若是，则运行键检测程序。

8.根据权利要求7所述的薄膜键盘PCBA测试方法，其特征在于，所述键检测程序包括步骤：

(1)运行输入字键时间检测程序；

(2)接收字键码直至最后检查字键；

(3)检测字键数是否正确，并返回检测结果，显示测试成功或显示漏字键。

9.根据权利要求8所述的薄膜键盘PCBA测试方法，其特征在于，所述输入字键时间检测程序包括步骤：

(1)获取此次字键输入时间；

(2)判断此次字键获取时间是否等于上次字键获取时间，若是，则继续步骤3，若不是，则继续步骤4；

(3)显示字键短路错误，结束程序；

(4)判断此次字键获取时间减去上次字键获取时间是否大于设定时间阈值；

(5)若是，则显示字键输入超时；若不是，则将上次字键获取时间变数存储为此次字键获取时间。