[发明专利]薄膜键盘PCBA测试装置及方法

说明书

本发明公开了一种薄膜键盘PCBA测试装置及方法，包括测试治具，测试治具通过治具探针连接PCBA金手指，并连接上位机；测试治具包括内置测试板，内置测试板包括MCU和若干选通开关单元，治具探针将PCBA键行列分别连接于不同的选通开关单元，选通开关单元的使能端和选通控制端均连接于MCU，MCU控制PCBA键行列的短路导通，薄膜键盘PCBA测试前需开启上位机测试程序，薄膜键盘PCBA微处理单元通过USB通讯或其他无线通讯方式将测试数据同步上传给上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。本发明采用一键启动，模拟键盘所有键测试全功能，操作简单，测试效率高。

技术领域

本发明涉及薄膜键盘PCBA测试技术，尤其涉及一种薄膜键盘PCBA测试装置及方法。

背景技术

键盘作为计算机及各种自动化设备最常用的输入装置，被广泛运用于电脑及各种不同的电子产品设备中进行文本以及命令的输入，其在外设领域有着举足轻重的作用，有效方便了操作人员与设备之间的人机交互。现有市面上键盘占比最大的还是普通的薄膜键盘，在薄膜键盘生产过程中需要安装上盖、下盖、键帽、薄膜开关(Membrane Switch)、PCBA(Printed Circuit Board+Assembly)、橡胶按键模块(Rubber Sheet)、铁压条、脚垫、USB线或电池(有线键盘使用USB线，无线键盘使用电池)，其中影响组装良率的关键因素就是键盘印制电路板组件PCBA。

生产厂家为了保证PCBA生产质量，通常在出货前会用治具对PCBA进行测试，但现有的键盘PCBA测试都是挑选键盘矩阵的18～20个按键进行测试，如图1所示，这种测试方式就是在测试治具上安装18～20个微动开关，逐个按压治具上的微动开关检验 PCBA功能是否完好，测试复杂且效率低。这种测试方式仅仅是针对PCBA上IC贴片或IC Bonding进行断路测试，PCBA加工过程中IC部分I/O短路不良没法检测出来，键盘组装后会造成键盘连键不良，这样不仅影响生产良率，而且拆解重工会造成物料报废。

发明内容

发明目的：针对以上问题，本发明提出一种薄膜键盘PCBA测试装置及方法，采用一键启动，模拟键盘所有键测试全功能，操作简单，测试效率高。

技术方案：为实现本发明的目的，本发明所采用的技术方案是：一种薄膜键盘PCBA测试装置，其特征在于，包括上位机、测试治具和电源；所述测试治具包括内置测试板、电源接口、测试开关、上位机接口和探针接口，电源接口、测试开关和探针接口均连接于内置测试板，上位机接口通过治具探针连接于薄膜键盘PCBA的USB接口探点；所述测试治具通过治具探针连接薄膜键盘PCBA金手指，治具探针连接于探针接口，通过电源接口连接电源，通过上位机接口连接上位机；所述测试治具通过测试开关启动，对 PCBA进行测试，测试数据同步上传给上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。

进一步地，所述内置测试板包括MCU、电源接口连接器、电压转换单元、治具探针连接器和若干选通开关单元；所述测试开关连接于MCU；所述电源接口连接器连接电压转换单元为MCU和若干选通开关单元供电；所述治具探针连接器引脚引出作为探针接口，并将PCBA键行列分别连接于不同的选通开关单元输入端，选通开关单元公共端全部短接在一起；所述选通开关单元的使能端和选通控制端均连接于MCU，MCU控制PCBA键行列的短路导通，测试数据同步上传给上位机，上位机测试软件显示测试状态及测试结果。

进一步地，所述测试治具还包括固件更新接口，所述内置测试板还包括固件更新接口连接器，连接于MCU。

一种薄膜键盘PCBA测试方法，包括步骤：

(1)将电源插入测试治具电源接口；

(2)测试治具上位机接口连接上位机；

(3)测试治具探针接口连接治具探针，治具探针连接PCBA金手指；

(4)上位机测试程序打开，再按测试治具上的测试开关进行测试。