[发明专利]依拉戈利酸硫酸盐的晶型及其制备和应用

权利要求书

1.一种式(I)化合物的硫酸盐的晶型，

其特征在于，所述晶型选自下组：晶型AZT-V、晶型AZT-Ⅵ、晶型AZT-Ⅶ、晶型AZT-Ⅷ；

所述晶型AZT-V的XRPD图谱包括3个或3个以上选自下组的2θ值：7.1°±0.2°、8.2°±0.2°、13.5°±0.2°、20.9°±0.2°；

所述晶型AZT-Ⅵ的XRPD图谱包括3个或3个以上选自下组的2θ值：6.5°±0.2°、7.9°±0.2°、16.1°±0.2°、21.8°±0.2°；

所述晶型AZT-Ⅶ的XRPD图谱包括3个或3个以上选自下组的2θ值：6.9°±0.2°、7.3°±0.2°、8.2°±0.2°、15.4°±0.2°；

所述晶型AZT-Ⅷ的XRPD图谱包括3个或3个以上选自下组的2θ值：6.8°±0.2°、8.0°±0.2°、9.6°±0.2°、16.1°±0.2°。

2.如权利要求1所述的晶型，其特征在于，所述晶型AZT-V具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述晶型AZT-V的XRPD图谱包括6个或6个以上选自下组的2θ值：7.1°±0.2°、8.2°±0.2°、9.8°±0.2°、13.5°±0.2°、13.7°±0.2°、18.0°±0.2°、20.5°±0.2°、20.9°±0.2°；

2)所述晶型AZT-V具有基本如图1所示的XRPD图；

3)所述晶型AZT-V具有基本如图2所示的TGA图；和

4)所述晶型AZT-Ⅴ在25～125℃有约11.3％的失重。

3.如权利要求1所述的晶型，其特征在于，所述晶型AZT-VI具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述晶型AZT-Ⅵ的XRPD图谱包括6个或6个以上选自下组的2θ值：6.5°±0.2°、7.9°±0.2°、9.3°±0.2°、12.9°±0.2°、13.8°±0.2°、16.1°±0.2°、19.3°±0.2°、21.8°±0.2°；

2)所述晶型AZT-Ⅵ具有基本如图3所示的XRPD图；

3)所述晶型AZT-Ⅵ具有基本如图4所示的TGA图；和

4)所述晶型AZT-Ⅵ在25～150℃有约6.3％的失重。

4.如权利要求1所述的晶型，其特征在于，所述晶型AZT-VII具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述晶型AZT-Ⅶ的XRPD图谱包括6个或6个以上选自下组的2θ值：6.9°±0.2°、7.3°±0.2°、8.2°±0.2°、10.8°±0.2°、15.4°±0.2°、15.6°±0.2°、18.7°±0.2°、22.1°±0.2°；

2)所述晶型AZT-Ⅶ具有基本如图5所示的XRPD图；

3)所述晶型AZT-Ⅶ具有基本如图6所示的TGA图；

4)所述晶型AZT-Ⅶ具有基本如图7所示的DSC图；

5)所述晶型AZT-Ⅶ在25～150℃有约5.9％的失重；和

6)所述晶型AZT-Ⅶ在65～90℃、90～120℃、120～140℃处各有一吸热峰。

5.如权利要求1所述的晶型，其特征在于，所述晶型AZT-VIII具有选自下组的一个或多个特征：

1)所述晶型AZT-Ⅷ的XRPD图谱包括6个或6个以上选自下组的2θ值：6.8°±0.2°、8.0°±0.2°、9.6°±0.2°、13.0°±0.2°、13.1°±0.2°、15.7°±0.2°、16.1°±0.2°、17.6°±0.2°；

2)所述晶型AZT-Ⅷ具有基本如图8所示的XRPD图；

3)所述晶型AZT-Ⅷ具有基本如图9所示的TGA图；和

4)所述晶型AZT-Ⅷ在25～125℃有约3.3％的失重。

6.一种权利要求1所述的晶型的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)将式(I)化合物加入到第一有机溶剂中，得到含式(I)化合物的溶液；

2)将浓硫酸用第二有机溶剂稀释，得到稀释后的硫酸溶液；

3)在搅拌条件下，将所述稀释后的硫酸溶液加入到式(I)化合物的溶液中，析晶得到权利要求1所述的晶型。