[发明专利]用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法有效
申请号: | 201911093616.7 | 申请日: | 2019-11-11 |
公开(公告)号: | CN110808221B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 喻志刚 | 申请(专利权)人: | 东莞记忆存储科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 蒋学超 |
地址: | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 sip 封装 smt da 整合 方法 | ||
本发明公开了用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法,该方法包括:根据SIP封装设计中DA设备无尘等级要求选择SMT设备;选择辅助焊料;根据选择的辅助焊料选取钢网。本发明提供的用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法,实现了将SMT和DA两大制程整合成一个制程,从而简化了封装流程并缩短了周期生产时间,从而大幅度提高封装生产效率。
技术领域
本发明涉及SIP封装,更具体地说是用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法。
背景技术
现有的封测厂(含封测代工厂)在SIP(systeminpackage)封装流程中主要有四大制程如图1所示:SMT(表面元件贴装)→DA(晶圆粘贴)→WB(焊线)→PKG(含封胶、打标、切单颗等),这四大制程对无尘室等级要求不同(DA和WB无尘等级1K、10K,SMT和PKG无尘等级10K、100K、1000K),故四个制程分布需要在不同的封测生产车间完成,这不仅造成生产流程长,产量低,而且导致制程管控复杂度增加。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法,所述方法包括:
根据SIP封装设计中DA设备无尘等级要求选择SMT设备;
选择辅助焊料;
根据选择的辅助焊料选取钢网。
其进一步技术方案为:所述根据SIP封装设计中DA设备无尘等级要求选择SMT设备步骤中,所述SIP封装包括普通封装和存储类封装;普通封装时,DA设备的无尘等级为10K,则选择的SMT设备的无尘等级为10K;存储类封装时,DA设备的无尘等级为1K,则选择的SMT设备的无尘等级为1K。
其进一步技术方案为:所述选择辅助焊料的步骤中,SMT和DA选择同种焊料或者不同种焊料;选择同种焊料时,SMT和DA均选择固晶锡膏;选择不同种焊料时,SMT选择高温锡膏,DA选择高温银胶。
其进一步技术方案为:所述根据选择的辅助焊料选取钢网的步骤中,所述钢网的种类包括锡膏钢网、阶梯上升钢网、阶梯下降钢网以及背面蚀刻钢网;选择同种焊料且SMD区域大DA区域小时,则使用阶梯下降钢网印刷固晶锡膏;选择同种焊料且SMD区域小DA区域大时,则使用阶梯上升钢网印刷固晶锡膏;选择不同种焊料时,则第一次使用锡膏钢网印刷高温银胶,第二使用背面蚀刻钢网印刷高温锡膏。
本发明与现有技术相比的有益效果是:本发明提供的用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法,通过根据SIP封装设计中DA设备无尘等级要求选择SMT设备;选择辅助焊料;根据选择的辅助焊料选取钢网,实现了将SMT和DA两大制程整合成一个制程,从而简化了封装流程并缩短了周期生产时间,从而大幅度提高封装生产效率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明技术手段,可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,详细说明如下。
附图说明
图1为现有技术的封装流程示意图;
图2为本发明用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法具体实施例封装流程示意图;
图3为本发明用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法具体实施例中钢网使用选择示意图;
图4为本发明用于SIP封装的SMT和DA制程整合方法具体实施例的步骤流程图。
具体实施方式
为了更充分理解本发明的技术内容,下面结合具体实施例对本发明的技术方案进一步介绍和说明,但不局限于此。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造