[发明专利]一种测试方法及装置

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

在对初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行存储性能理事会SPC-1测试之后，执行以下操作：

步骤S102、获取在SPC-1测试中，所述临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域中包含的所有逻辑卷LV对应的输入/输出数据量；

步骤S103、将i的初始值设置为1；

步骤S104、将输入/输出数据量大于或者等于设定的第i个数据量阈值的LV按照设定调整规则，分配到所述临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区；

步骤S106、对重新配置的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC-1测试；

所述步骤S104之后，所述步骤S106之前，所述方法还包括：

步骤S105、对于临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域，分别进行如下操作：

按照存储区域中包含的每个LV对应的等级重新排列LV的顺序，以使相同等级的LV不连续排列；

其中，LV对应的等级包括第一等级和第二等级；

当LV的输入/输出数据量大于或者等于设定的等级阈值时，所述LV对应的等级为第一等级；

当LV的输入/输出数据量小于设定的等级阈值时，所述LV对应的等级为第二等级；

所述步骤S106之后，所述方法还包括：

步骤S107、根据所述SPC-1测试中采集的每个性能数据，如果性能数据最高值与性能数据最低值之间差值的绝对值大于或者等于设定的波动阈值，则i＝i+1，转步骤S104。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在对初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC-1测试之前，所述方法还包括：

根据映射到计算设备的物理卷，按照设定的分配规则将物理卷分配到每个卷组VG中；

根据每个VG分配的物理卷，确定每个VG包含的LV；

根据所有LV配置初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据映射到计算设备的物理卷，按照设定的分配规则将物理卷分配到每个卷组VG中之前，所述方法还包括：

根据计算设备与存储设备拓扑关系，将物理卷映射到计算设备；

根据映射到计算设备的物理卷的数量确定VG的数量和LV的数量。