[发明专利]一种测试方法及装置

说明书

本申请提供一种测试方法及装置，所述方法包括：在对初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC‑1测试之后，执行以下操作：获取在SPC‑1测试中，临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域中包含的所有逻辑卷LV对应的输出/输出数据量；将i的初始值设置为1；将输出/输出数据量大于或者等于设定的第i个数据量阈值的LV按照设定调整规则，分配到临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区；对重新配置的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC‑1测试。上述技术方案可以实现在SPC‑1性能测试过程中负载均衡，从而提高测试结果的有效率。

技术领域

本发明涉及计算机领域，尤其涉及测试方法及装置。

背景技术

在SPC-1(Storage Performance Council，存储性能理事会)性能测试过程中，模拟了三个不同的存储区域ASU(Applications Storage Units，应用存储单元)，临时存储区域(ASU1)、固定存储区域(ASU2)以及日志存储区域(ASU3)。因为在实际应用中，不同的存储区域承担I/O负载的类型和大小都不同，所以SPC-1对三个存储区域的I/O数据流特征进行不同的定义。同时ASU1、ASU2、ASU3分别模拟了三类不同的工作负载，在测试过程中，分别给这三类工作负载划分了一定的容量空间。由于I/O压力分配不同，通常会导致不同卷之间I/O压力差距巨大，甚至IOPS(Input/Output Operations Per Second，每秒进行读写操作的次数)相差几百倍。进而在SPC-1各个压力测试阶段中会出现性能波动、平均延时时间波动，也会影响存储真正的性能提升，甚至导致测试结果无效而失败。

发明内容

本申请所要解决的技术是提供一种测试方法及装置，可以实现在SPC-1性能测试过程中负载均衡，从而提高测试结果的有效率。

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种测试方法，所述方法包括：

在对初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行存储性能理事会SPC-1测试之后，执行以下操作：

步骤S102、获取在SPC-1测试中，所述临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域中包含的所有逻辑卷LV对应的输入/输出数据量；

步骤S103、将i的初始值设置为1；

步骤S104、将输入/输出数据量大于或者等于设定的第i个数据量阈值的LV按照设定调整规则，分配到所述临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区；

步骤S106、对重新配置的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC-1测试。

可选地，所述步骤S104之后，所述步骤S106之前，所述方法还包括：

步骤S105、对于临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域，分别进行如下操作：

按照存储区域中包含的每个LV对应的等级重新排列LV的顺序，以使相同等级的LV不连续排列；

其中，LV对应的等级包括第一等级和第二等级；

当LV的输入/输出数据量大于或者等于设定的等级阈值时，所述LV对应的等级为第一等级；

当LV的输入/输出数据量小于设定的等级阈值时，所述LV对应的等级为第二等级。

可选地，所述步骤S106之后，所述方法还包括：

步骤S107、根据所述SPC-1测试中采集的每个性能数据，如果性能数据最高值与性能数据最低值之间差值的绝对值大于或者等于设定的波动阈值，则i＝i+1，转步骤S104。

可选地，所述在对初始状态的临时存储区域、固定存储区域以及日志存储区域进行SPC-1测试之前，所述方法还包括：