[发明专利]结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置在审

专利信息
申请号: 201911099615.3 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN112857234A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 黄琳典;冯兆平 申请(专利权)人: 峻鼎科技股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01B11/25
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 任芸芸;郑特强
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 结合 物体 维和 高度 信息 测量方法 及其 装置
【说明书】:

发明公开一种结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置,结合物体二维和高度信息的测量方法包括:提供一基准平面以供放置测量对象;投射红、绿、蓝三原色光源于测量对象上,其中至少一色彩的光源是形成多个光束,多个光束倾斜地投射于测量对象的顶面并形成多数个光点;通过摄像装置提取测量对象图像,并且提取对应于三原色光源通道的图像信息;利用对应于多个光束颜色通道的图像信息,通过光束投射于测量对象上所形成光点的水平偏移量,以取得测量对象的高度信息;利用其余颜色通道的图像信息,通过图像辨识方式以取得二维测量或检测信息。

技术领域

本发明有关于一种结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置,特别是有关于一种适合于印刷电路板、集成电路、电子组件基板等类型具有二维及立体形貌对象的测量或检测作业使用的结合物体二维和高度信息的测量方法及其装置。

背景技术

现有的印刷电路板、集成电路、或电子基板等类型具有二维形貌和三维形貌的对象,常利用视觉检测方式进行检测或测量。

然而目前的测量技术通常需要通过两组(或以上)的摄像装置或光学扫瞄装置对物体进行多次扫描,以分别得到物体的2D及3D测量结果。如此不仅耗费测量时间,还会增加机具成本。

此外,现有的视觉检测技术所使用三维测量方法通常使用的扫瞄装置的结构相当复杂,因此也造成了测量设备昂贵的问题存在。

由于以上原因,造成现有测量技术的缺点,故如何通过结构改良,以解决前述各项问题,已成为该项产品所欲解决的重要课题之一。

发明内容

本发明主要目的,在于提供一种能够解决目前测量技术中,必须多次扫瞄方能够取得二维及三维测量信息的缺点。

为了解决上述的技术问题,本发明一实施例提供一种结合物体二维和高度信息的测量方法,其中包括:提供一基准平面以供放置测量对象;通过照明装置投射红、绿、蓝三原色光源于所述测量对象上,所述三原色光源中至少一色彩的光源是通过光束产生装置产生的多个光束,并且多个所述光束相对于所述基准平面倾斜地投射于所述测量对象上,而于所述测量对象顶面形成多数个光点;通过摄像装置提取所述测量对象图像,并且从所述摄像装置输出的图像信息中提取对应于所述三原色光源通道的图像信息;利用对应于所述光束产生装置所发出的光源颜色通道的图像信息,通过图像辨识方式计算光束投射于测量对象上所形成光点的水平偏移量,以取得所述测量对象的高度信息;利用除了所述光束产生装置所发出的光线颜色以外的其余颜色光源通道的图像信息,通过图像辨识方式以以取得二维测量或检测信息。

本发明测量方法的一优选实施例中,所述照明装置还具有多个发光组件,用以产生所述三原色光源当中,除了所述光束产生装置所输出光源颜色以外的其余色彩的所述原色光源。

本发明测量方法的一优选实施例中,其中所述测量对象的高度信息,能够通过下列公式取得:h=d×tan(θ);其中,h为所述测量对象顶面距离所述基准平面高度;d为所述光束产生装置输出光束形成于所述测量对象顶面的光点和激光束与所述基准平面交会点的水平方向偏移距离;以及θ为所述光束与所述基准平面的夹角。

本发明实施例还提供一种用于实施本发明方法的测量装置,其中包括:一基座,所述基座顶面形成所述基准平面;一本体部,所述本体部具有一镜头支架,用以设置所述摄像装置,以及多个安装架,用以设置所述照明装置的所述光束产生装置及多个所述发光组件。

本发明测量装置的一优选实施例,其中所述光束产生装置具有一光源装置,用以产生多个所述光束,以及至少一反射镜,用以反射多个所述光束,而使得多个所述光束以预定倾斜角度投射于所述基准平面上。

本发明的有益效果,在于能够同时取得物体的二维测量及高度测量数据,而简化检测作业,并提高效率。

为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而所提供的附图仅用于提供参考与说明,并非用来对本发明加以限制。

附图说明

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