[发明专利]一种微流控芯片试剂超声混匀方法

权利要求书

1.一种微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，包括：

超声探头向微流控芯片内的试剂储存腔发出间歇式超声，以振荡试剂；

该间歇式超声包括若干个超声时段A2和非超声时段B2交替循环，（A2+B2）×N2=C2，其中，N2为超声时段A2与非超声时段B2循环的总次数，C2为间歇式超声混匀工作时间；

当超声混匀工作时间C2结束后，所述超声探头停止发出超声；

每个循环内所述非超声时段B2的时长是超声时段A2时长的五倍及以上；

每个循环内所述超声时段A2不超过0.1秒；

所述微流控芯片试剂超声混匀方法还包括所述超声探头位于试剂储存腔上端发出间歇式超声C1；

该间歇式超声C1包括若干个超声时段A1和非超声时段B1交替循环，C1=（A1+B1）×N1，其中，N1为超声时段A1与非超声时段B1循环的总次数，C1为间歇式超声混匀工作时间。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，超声探头在试剂储存腔上端与在试剂储存腔下端之间的间距大于10mm时，所述超声探头位于试剂储存腔上端发出间歇式超声C1。

3.根据权利要求1所述的微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，所述超声探头向微流控芯片的试剂储存腔发出间歇式超声时段C2之前，先执行连续超声时段A＇，待连续超声时段A＇结束后，再向微流控芯片的试剂储存腔发出间歇式超声C2和C1。

4.根据权利要求1所述的微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，所述超声探头非工作时的初始位置与所述试剂储存腔间隔设置；所述超声探头工作时，向试剂储存腔靠拢并贴合；所述超声探头完成工作后，退回至初始位置。

5.根据权利要求1所述的微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，每个循环内所述非超声时段B1的时长是超声时段A1时长的五倍及以上。

6.根据权利要求1所述的微流控芯片试剂超声混匀方法，其特征在于，每个循环内所述超声时段A1不超过0.1秒。