[发明专利]一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测方法有效

专利信息
申请号: 201911111253.5 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN110672626B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 张弛;朱磊;侯晓峰 申请(专利权)人: 上海感图网络科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06T7/00
代理公司: 北京伊诺未来知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11700 代理人: 杨群
地址: 201800 上海市嘉定区科福*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 手机 壳体 表面 颗粒 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的装置,其特征在于:包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分,其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取及固定,缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体采集信息并识别缺陷;

所述的手机壳体传送抓取部分包括

手机壳体传送台(8),该手机壳体传送台(8)用于将待测手机壳体(13)运送到指定位置;

手机壳体抓取装置(9),该手机壳体抓取装置(9)设置在手机壳体传送台(8)上方,能够实现对特定位置的待测手机壳体(13)的抓取及位置移动;

手机壳体移动控制装置(10),该手机壳体移动控制装置(10)与手机壳体抓取装置(9)电连接,并能够实现对手机壳体抓取装置(9)的控制;

所述的手机壳体传送台(8)上设置传送控制电机(14),该传送控制电机(14)通过控制传送带实现对待测手机壳体(13)的运送;

所述的缺陷采集识别部分包括

条形光源设备(3),该条形光源设备(3)用于在待测手机壳体(13)表面形成光栅;

平面无影光源设备(4),该平面无影光源设备(4)用于形成无影照明;在平面无影光源设备(4)表面覆盖工业用标定板(7)后用于在待测手机壳体(13)外侧表面上形成无影光斑,使之能清晰呈现手机壳体中框表面颗粒缺陷;

摄像装置,该摄像装置用于对待测手机壳体(13)拍摄,形成高清图像;

图像识别主机(11),该图像识别主机(11)与摄像装置数据连接,并能够识别摄像装置输出数据中的拍摄到的待测手机壳体(13)的缺陷;

图像显示设备(12),该图像显示设备(12)与图像识别主机(11)电连接,用于显示图像识别主机(11)的输出结果;

所述摄像装置包括光学连接的高清工业光学镜头(6)和高清工业数字摄像机(5);

所述高清工业光学镜头(6),用于拍摄采集手机壳体的不同位置的缺陷光学图像,该光学镜头使用1000万以上像素,生成4K,4096×2160,以上分辨率高清光学图像,可将所拍摄手机壳体外侧表面成像至高清工业数字摄像机;

手机壳体传送台(8)协同传送控制电机(14),将待测手机壳体(13)传送至指定位置,手机壳体抓取装置(9),从手机壳体传送台(8)指定位置抓取并固定待测手机壳体(13),手机壳体移动控制装置(10)将抓取并固定的待测手机壳体(13)移动至指定检测位置(1);

之后,条形光源设备(3)输出一面条形光源,该面条形光源发出条纹光栅,投射在待测手机壳体(13)上形成明暗条纹光栅,协同平面无影光源设备(4)配合覆盖在平面无影光源设备上工业用标定板(7)输出无影光源,投射在待测手机壳体(13)外侧表面上形成无影光斑;

接下来高清工业数字摄像机(5),配合高清工业光学镜头(6),采集拍摄待测手机壳体(13)外侧表面图片;

每个手机壳体中框表面,根据检测需要,被分成了80个检测位置,通过手机壳体移动控制装置(10)分别转动待测手机壳体(13)实现;

依次调整采集平台承载架(1)、采集设备支架(2)、条形光源设备(3)、平面无影光源设备(4)、工业用标定板(7)、高清工业数字摄像机(5)、高清工业光学镜头(6)的位置,角度,距离,亮度,光圈和焦距,确保80个采集点位置的上中下三面均能够清晰成像。

2.如权利要求1所述的一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的装置,其特征在于:所述的摄像装置至少有三组。

3.如权利要求2所述的一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的装置,其特征在于:所述的条形光源设备(3),用于提供一种面条形光源,该面条形光源发出条纹光栅,投射在手机壳体上形成明暗条纹光栅,使之能清晰呈现手机壳体中框表面颗粒缺陷。

4.如权利要求1所述的一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的装置,其特征在于:所述高清工业数字摄像机(5),用于将拍摄采集手机壳体的不同位置的缺陷光学图像转换为对应的数字图像信号,配合高清工业光学镜头(6),使用1000万以上像素,生成4K,4096×2160,以上分辨率高清图像,通过高清工业数字摄像机内的CMOS传感器,其将光学图像转换为数字图像。

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