[发明专利]一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测方法

说明书

本发明涉及图像缺陷识别领域，特别涉及一种应用于手机壳体中框表面颗粒缺陷识别所使用的检测方法。一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其中，包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分，其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取、移动及固定，缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体采集信息并识别缺陷。本发明的效果是：a.增强形变缺陷的特征，使得颗粒缺陷显示的更明显。b.增强形变缺陷的清晰度，使得直径小于0.1mm的颗粒缺陷更加容易被发现。c.增强在高亮，高反光的弧面上缺陷的识别度，使得在特殊角度和特殊位置的无法被人眼看到的颗粒缺陷全部显示出来。d.降低灰尘和脏污的特征，减少其对颗粒缺陷识别的影响，使得缺陷识别率大大增加。

技术领域

本发明涉及图像缺陷识别领域，特别涉及一种应用于手机壳体中框表面颗粒缺陷识别所使用的检测方法。

背景技术

自手机这种产品发明以来，随着越来越小型化和智能化，越来越广泛的在千家万户普及开来，伴随着互联网新技术、手机智能系统和3G、4G移动网络技术的不断推出，手机作为一个多媒体移动终端媒介，使用的频度越来越高，人们可以用它来打电话、听音乐、拍照、看电影、浏览网页、玩手机游戏等，将其他电子设备的功能都融合于一台手机之上。同时手机自身的智能技术也越来越成熟，像人脸AI识别、语音识别助手，无线充电等。手机已经成为人们日常生活中几乎不可缺少的用品和工具，是人类使用科技改变生活的典型标志。

手机外壳技术也随着人们使用频度的增大，不断的推陈出新，同时结合手机最新的全面屏技术，手机外壳制造工艺也随之进入一个新的阶段，从原来的塑料材质、金属材质过渡到现在的铝合金材质，玻璃材质等。而铝合金材质的手机壳体在生产过程中，由于生产工艺问题，在生产手机壳体所设计的各个环节中，所生产出来的产品受技术条件和环境因素的影响，仍不可避免的会出现一部分带有如同色点、异色点、压伤、碰伤、擦伤、划伤、软划伤、飞边、缩水、熔接线、橘纹、颗粒、凹印、凸印、锯齿、掉漆、孔缺、麻点等缺陷的产品，这些缺陷对手机壳体的机械刚度和产品使用美观度都有很大影响，因此，需要在生产过程中对这些缺陷进行检测。并且经调研发现，手机壳体中框表面颗粒缺陷因生产工艺流程问题大约占到总缺陷数量的30％以上，因颗粒缺陷存在过于细微、易与灰尘颗粒混淆等种种特点，迫切需要一种专用的装置和方法解决手机壳体中框表面颗粒缺陷的有效检测问题。

目前绝大部分的手机壳体生产厂家对于颗粒这类缺陷的检测都是通过人工肉眼进行识别检测，依靠产线上的质检人员，通过肉眼及显微镜等辅助工具，对每一个手机壳体中框表面进行颗粒缺陷问题的检测，这种检测方法极大的依赖质检人员的作业经验和主观感受来判断缺陷是否存在，受客观因素影响较大，如长时间工作以后，产生的疲劳会导致肉眼判断出现一定的偏差可能，从而很容易造成误检、漏检问题的出现。

目前国内诸多视觉识别供应商都是在解决以上问题时都是采用传统视觉配合人工智能识别的模式，即使用工业相机配合机械设备对手机壳体中框表面进行图像采集，然后通过卷积神经网络进一步判断图像中的缺陷信息。但是该方法受限于相机拍摄环境、角度及拍摄设备性能影响，如壳体材质反光、壳体沾上灰尘、颗粒缺陷微小等，非常难以拍摄到手机壳体中的颗粒缺陷特征及其细微缺陷信息。

发明内容

本发明针对现有技术的缺陷，提供一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测方法，该方法能高效、准确、快速、稳定的检测手机壳体中框表面颗粒缺陷。

本发明是这样实现的：一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其中，包括手机壳体传送抓取部分和缺陷采集识别部分，其中手机壳体传送抓取部分用于手机壳体的抓取及固定，缺陷采集识别部分用于对固定的手机壳体采集信息并识别缺陷。

如上所述的一种手机壳体中框表面颗粒缺陷的检测装置，其中，所述的手机壳体传送抓取部分包括:

手机壳体传送台，该手机壳体传送台用于将待测手机壳体运送到指定位置；

手机壳体抓取装置，该手机壳体抓取装置设置在手机壳体传送台上方，能够实现对特定位置的待测手机壳体的抓取及位置移动；