[发明专利]一种高压MOSFET开关驱动及保护电路在审

专利信息
申请号: 201911111580.0 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN110635669A 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 黎遥;顾晓蓉 申请(专利权)人: 南京大学;南京固德芯科技有限公司
主分类号: H02M1/08 分类号: H02M1/08;H03K17/687;H03K17/08
代理公司: 32249 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 运算单元 栅极逻辑 低压源 外部 浮地电源 栅极驱动 关断 逻辑控制信号 栅极驱动电压 电荷泵电路 高压MOSFET 保护功能 低电压源 负载电压 高电压源 过流检测 降压电路 开关驱动 逻辑控制 驱动电路 输入电源 输入高压 电荷泵 电压源 输入端 低电 浮地 高电 加载 稳压 卸载 电路 电源 驱动 检测
【说明书】:

一种高压MOSFET开关驱动及保护电路,包括浮地电压源、内部低压源、电荷泵、逻辑控制、过流检测、过温检测以及栅极驱动部分;输入高压电源通过稳压或降压电路获得浮地电源和内部低压源;浮地电源驱动电荷泵电路获得高于输入电源的MOSFET栅极驱动电压;采用栅极逻辑运算单元连接栅极驱动,该栅极逻辑运算单元中输入端为内部低压源与外部TTL输入信号:内部低电压源用于比较外部TTL输入信号以及过流、过温的逻辑控制信号;当外部TTL输入信号为高电平时,栅极逻辑运算单元关断MOSFET,卸载负载电压源。当外部TTL输入信号为低电平时,开启MOSFET,高电压源加载至负载。实现的保护功能:当过流或过温工作时,关断MOSFET,保护驱动电路及负载。

技术领域:

发明属于电子信息技术领域,具体涉及一种高压MOSFET开关驱动电路及保护电路。

背景技术:

功率场效应晶体管(MOSFET)具有开关速度快、驱动功率小和安全工作区宽等特点,在高性能的开关电源及各种控制应用领域得到了广泛的应用。例如,脉冲调宽的低压信号,通过开关高压功率MOSFET可以实现电机的位移控制。在高功率激光的驱动应用中,脉冲宽度控制的脉冲信号通过开关MOSFET高压功率管,实现激光工作电流及工作温度的精密调节。此外,在雷达探测的应用中,氮化镓功率放大器工作在脉冲方式,需要开关MOSFET为功率负载提供高压脉冲电源。以上所述的各种应用对MOSFET驱动电路的要求包括:高压(50-100V)MOSFET开关受外部低压(3.3-5V)信号的控制。为实现快速的MOSFET开启将输入电源加载至负载,MOSFET的栅极电压须高于电源电压(l0~l5V)。并且,此时高压MOSFET对电路吸收的功率很小,对系统总效率的影响需忽略。

当前,为实现高压MOSFET的开启,可使用变压器的MOSFET栅极驱动方式,但是此方式不适用于高速开关的场景。采用独立栅极供电的方式需引入新的电源,增加了系统的复杂性。而采用已有输入电源实现MOSFET的驱动,可以极大的简化电路,提升电路的集成性。此外,为了电路的安全性,驱动电路在MOSFET的负载电流或工作温度超限时,需要能及时关断MOSFET,具备保护开关驱动及后级负载的能力。

发明内容:

为改变现有方案的缺点并满足对驱动和保护能力的需求,本发明目的是,提出一种高压MOSFET开关驱动和保护电路。该驱动电路实现的功能是:当外部TTL输入信号为低电平时,开启MOSFET,将输入高电压源加载至负载。当外部TTL输入信号为高电平时,关断MOSFET,卸载负载电压源。同时,该电路实现的保护功能是:当MOSFET过流或过温工作时,关断MOSFET,保护驱动电路及负载。

本发明的技术方案是,一种高压MOSFET开关驱动及保护电路,包括浮地电压源、内部低压源、电荷泵、逻辑控制、过流检测、过温检测以及MOSFET栅极驱动部分;输入高压电源通过稳压或降压电路获得浮地电源和内部低压源;浮地电源驱动电荷泵电路获得高于输入电源的MOSFET栅极驱动电压;采用栅极逻辑运算单元连接MOSFET栅极驱动电路,该栅极逻辑运算单元中输入端为内部低压源与外部TTL输入信号:内部低电压源用于比较外部TTL输入信号以及过流、过温的逻辑控制信号:当外部TTL输入信号为低电平时,栅极逻辑运算单元开启MOSFET,将输入高电压源加载至负载。当外部TTL输入信号为高电平时,栅极逻辑运算单元关断MOSFET,卸载负载电压源。栅极逻辑运算单元为外部TTL信号和过流检测信号通过各种门电路,完成开启和关闭MOSFET的判断信号。

所述逻辑控制信号通过栅极驱动模块实现高压MOSFET的开断。所述过流检测及过温检测通过电流采样及温度采样获得。

过流检测及过温检测电路连接到栅极逻辑运算单元,当MOSFET工作过流或过温时,栅极逻辑运算单元关断MOSFET,保护驱动电路及负载;过流检测及过温检测通过电流采样及温度采样获得。

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