[发明专利]一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法

说明书

本发明涉及一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法，所述模拟装置包括壳体以及设置于壳体内的静导体、动导体、非标梅花触头、绝缘子和触头绝缘支架，所述静导体一端、非标梅花触头、动导体一端依次连接，构成导电回路，且所述静导体与非标梅花触头固定连接，动导体与非标梅花触头可拆卸连接，所述静导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述动导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述触头绝缘支架套在非标梅花触头上并与壳体连接，所述非标梅花触头为弹簧中径可变的梅花触头。与现有技术相比，本发明代替GIS母线筒来进行故障模拟与测试，并可进行红外校准实验，提高红外检测的准确度，达到便捷地检测GIS故障的目的。

技术领域

本发明属于GIS热故障模拟检测技术领域，尤其是涉及一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法。

背景技术

目前，气体绝缘金属封闭开关设备(简称：GIS设备，Gas Instulated Switchgear)能否正常工作关系到电力系统的安全稳定运行，随着GIS设备数量不断增多以及运行年限日益增长，各类缺陷逐渐增多，发热性缺陷是GIS故障的主要缺陷类型，对于触头来说尤为常见，GIS设备多为高压大电流，一旦出现故障，触头的温度会迅速增高。近几年由于发热引起的设备故障屡见不鲜，已造成多起设备停运甚至爆炸等事故，因此加强GIS设备尤其是内部触头热故障的检测与分析具有重要意义。

目前，通常通过测量GIS设备内部回路电阻，来对GIS设备内部导体之间的接头的热故障进行判别。但是，测量GIS设备内部回路电阻都需要对该GIS设备停电，这就导致电力系统中与该GIS设备的相连的部分也可能停止运行，降低了电力系统的运行效率，不利于电力系统的经济运行。因此，有必要研发一种故障模拟装置以提高GIS设备的检修效率。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种GIS内部触头接触不良的模拟装置及红外校准方法，用于对GIS母线筒内接触不良的故障进行模拟，并在其外壳用热电偶准确测温并对红外图像做校正处理。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种GIS内部触头接触不良的模拟装置，包括壳体以及设置于壳体内的静导体、动导体、非标梅花触头、绝缘子和触头绝缘支架，所述静导体一端、非标梅花触头、动导体一端依次连接，构成导电回路，且所述静导体与非标梅花触头固定连接，动导体与非标梅花触头可拆卸连接，

所述静导体另一端通过绝缘子与壳体连接，所述动导体另一端通过绝缘子与壳体连接，

所述触头绝缘支架套在非标梅花触头上并与壳体连接，

所述非标梅花触头为弹簧中径可变的梅花触头。

进一步地，该模拟装置用于模拟经过长时间运行后粗糙的触头表面时，所述非标梅花触头的弹簧中径d₂由以下公式获得：

其中，d_arm为触臂的直径，d₂₀为国标梅花触头的弹簧中径，D₀为触头弹簧自由状态下的轴线闭合圆直径，R_ao为国标梅花触头的粗糙度，R_a+为模拟现场的触头粗糙度。

进一步地，该模拟装置用于模拟经过长时间运行后由于被烧蚀而导致弧触头长度降低的状态时，所述非标梅花触头的弹簧中径d₂由以下公式获得：

其中，d_arm为触臂的直径，d₂₀为国标梅花触头的弹簧中径，D₀为触头弹簧自由状态下的轴线闭合圆直径，s₀为国标梅花触头的弧触头行程长度，s₊为被模拟现场的弧触头行程长度。

进一步地，所述非标梅花触头的材料为铍钴铜。