[发明专利]一种新型手机射频电测用测试探针模块

说明书

当前对射频测试用的“测试探针模块”多基于一体式结构，即便单个探针损坏也需要将整套产品全部更换，实际使用成本昂贵且无法重复利用,并且有着测试波形不稳定、使用寿命短等缺陷。本发明提供了一种模块化设计的测试探针模块，包括PCB组件、安装在PCB组件上的基座、压块、压块挡板、探针夹持座、探针和弹性构件，可以方便快速地对探针进行拆装、维护、更换，提高了测试探针模块重复利用率，降低了测试成本；同时在压合设计上对连接器采用了先定位再压合测试的原理，避免了探针与连接器产生瞬间刚性冲击，提升了测试的稳定性，提高了探针的使用寿命。

技术领域

本发明涉及测试治具的技术领域，特别涉及一种新型手机射频电测用测试探针模块。

背景技术

手机射频测试主要是一种对手机内部装有射频天线的Flex组件进行发射功率、频率误差、相位误差、接受灵敏度等性能的可靠性测试。

目前测试的主要方式是用模拟基站信号的综合测试仪为信号发射源，通过测试探针模块作为中间传导介质与带有射频天线Flex的板载连接器进行压合接触形成闭合回路后，测试其相关性能。其中“测试探针模块”作为主要的信号传导介质，对于测试结果的稳定性、可靠性和真实性具有决定性作用。

当前行业内对于射频测试用的“测试探针模块”多基于一体式结构，即便单个探针损坏也需要将整套产品全部更换，实际使用成本昂贵且无法重复利用,并且有着测试波形不稳定、使用寿命短等缺陷。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种通过对“测试探针模块”模块化设计，可以方便快速地对探针进行拆装、维护、更换，提高了“测试探针模块”重复利用率，降低了测试成本；同时在压合设计上对连接器采用了先定位再压合测试的原理，避免了探针与连接器产生瞬间刚性冲击，提升了测试的稳定性，提高了探针的使用寿命。

本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块，包括PCB(印刷线路板)组件、基座、压块、压块挡板、探针夹持座、探针和弹性构件，压块上下表面间有垂直于上下表面的导向孔及探针孔1，压块下边沿有一圈凸块，基座上下表面间有垂直于上下表面的探针孔2，基座上表面有与压块下表面形状相匹配的凹槽，凹槽内有与导向孔相匹配的导向柱，压块活动安装在基座的凹槽内，导向柱穿插在导向孔内，基座与压块之间有弹性构件支撑，压块挡板为镂空板状结构，镂空孔的形状与压块上表面形状匹配，压块挡板将压块限定在基座的凹槽内使压块只能上下活动，探针夹持座上下表面之间有垂直于上下表面的探针孔3，探针夹持座固定在PCB组件上，PCB组件上下表面之间有垂直与上下表面的探针孔4，基座安装在PCB组件上，探针孔1、探针孔2、探针孔3、探针孔4的圆心在同一直线上，探针的一端依次通过探针孔3、探针孔4与PCB组件上的对应线路相连，另一端依次通过探针孔2、探针孔1隐藏在压块内。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的压块出针面有与测试产品连接器相匹配的仿形槽。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的弹性机构的数量为4个以上。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的弹性机构为弹簧。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的探针至压块出针面的距离A小于弹性构件的可压缩行程。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的PCB组件还装有电压输入端子和射频端子。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的探针的数量为10-20根。

优选的，本发明提供的一种新型手机射频电测用测试探针模块的探针与PCB组件连接的方式为焊接或插接。