[发明专利]基于交错拼接应用的CMOS成像系统有效
申请号: | 201911126411.4 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN110855864B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 余达;刘金国;韩诚山;薛旭成;姜肖楠;张艳鹏;许亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/232;H04N5/374 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 朱红玲 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 交错 拼接 应用 cmos 成像 系统 | ||
1.基于交错拼接应用的CMOS成像系统,包括相机控制器和n个成像组;每个成像组均包括422通信控制模块、时序驱动控制模块、数据整合及发送模块、数传接口模块和成像焦平面模块;所述422通信控制模块接收相机控制器发送命令,并返回相应的信息;时序驱动控制模块产生满足电压和电流要求的时序驱动信号;数据整合及发送模块将多通道的串行数据处理后,输出满足数传接口协议的数据;数传接口模块输出数传接口协议规定的信号;成像焦平面模块用于进行光电转换,同时产生成像焦平面模块的CMOS探测器所需的电压和偏置信号;其特征是:
所述CMOS成像系统的地面覆盖宽度SW与单片CMOS探测器的有效像元数nvalid_pix的关系为:
SW=[nvalid_pix×nchip-noverlap_pix×(nchip-1)]×GSD
式中,nchip为CMOS探测器的总片数,noverlap_pix为CMOS探测器的片间搭接像元数,nvalid_pix为单片CMOS探测器的有效像元数,GSD为地面像元分辨率;
CMOS探测器焦面板的长度fcontrol=2(nvalid_pix-noverlap_pix)×apix-lboard_gap;
式中,apix为CMOS探测器的像元尺寸,lboard_gap为CMOS探测器焦面板之间的间隙;
所述CMOS探测器的管脚分布方式为:CMOS探测器的管脚排布上,在CMOS探测器中间无管脚的区域放置导热片,在线路板上的对应位置放置电源的滤波电容;在CMOS探测器的中间无管脚分布区域形成一个四层的空间立体结构:第一层为CMOS探测器,第二层为紧贴CMOS探测器的散热片;第三层为紧贴线路板焊接的滤波电容,第四层为线路板;要求中间放置导热片的未分布管脚的区域宽度为lblank_pin,所述lblank_pin≥5mm;在CMOS探测器的上端和下端均放置电源和偏置管脚。
2.根据权利要求1所述的基于交错拼接应用的CMOS成像系统,其特征在于:所述CMOS探测器的谱段分布设定为:全色谱段在探测器的一侧,多光谱谱段在CMOS探测器的其余位置。
3.根据权利要求1所述的基于交错拼接应用的CMOS成像系统,其特征在于:还包括对CMOS探测器进行封装;具体包括管脚分布区域,晶圆和多个滤波电容;所述晶圆与多个滤波电容和管脚分布区域的管脚通过连接线连接;
设定容值小于4.7uF偏置滤波电容采用单个瓷片电容,管脚不引出;
将多光谱谱段的相同功能的供电电源合并为一个;
所述晶圆上的每个电源管脚和地管脚之间添加容值在0.01uF-0.1uF的瓷片电容,每个电源再添加一只容值在1-4.7uF的瓷片电容。
4.根据权利要求1所述的基于交错拼接应用的CMOS成像系统,其特征在于:所述CMOS探测器的管脚数nchip_pin用下式表示为:
nchip_pin=ngnd_pin+npower_pin+nbias_pin+ndata_out_pin+ncontrol_pin+ncharge_transfer_pin+nspi_test_clock_pin
式中,ngnd_pin为探测器的地管脚数,要求模拟地、数字地、模数转换地和像素地各小于等于2个;npower_pin为探测器的电源管脚数,要求相同的模拟电源、数字电源和模数电源的管脚数小于等于2;
nbias_pin为探测器的偏置管脚数,所述探测器的偏置管脚数nbias_pin的值与偏置电容大于4.7uF的管脚数相等;ndata_out_pin为探测器输出数据的管脚数,ncontrol_pin为探测器的输入控制管脚数,ncharge_transfer_pin为探测器的输入电荷转移管脚数,nspi_test_clock_pin为探测器的spi接口、输入时钟和测试管脚数。
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