[发明专利]半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201911127155.0 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN111223859A 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 黄麟淯;王圣璁;游家权;张家豪;林天禄;林佑明;王志豪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 任芸芸;郑特强
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

一鳍片,设置在一基底上方;

一栅极结构,设置在该鳍片的一通道区上方,使得该栅极结构横过该鳍片的源极/漏极区;

一多层互连结构的一装置级层间介电层,设置在该基底上方,其中该装置级层间介电层包括:

一第一介电层,

一第二介电层,设置在该第一介电层上方,以及

一第三介电层,设置在该第二介电层上方,且该第三介电层的材料不同于该第二介电层的材料和该第一介电层的材料;

一栅极接触件,至设置在该装置级层间介电层中的该栅极结构;以及

一源极/漏极接触件,至设置在该装置级层间介电层中的该源极/漏极区。

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