[发明专利]半导体装置及其制造方法在审
申请号: | 201911127155.0 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN111223859A | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 黄麟淯;王圣璁;游家权;张家豪;林天禄;林佑明;王志豪 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 任芸芸;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体装置,包括:
一鳍片,设置在一基底上方;
一栅极结构,设置在该鳍片的一通道区上方,使得该栅极结构横过该鳍片的源极/漏极区;
一多层互连结构的一装置级层间介电层,设置在该基底上方,其中该装置级层间介电层包括:
一第一介电层,
一第二介电层,设置在该第一介电层上方,以及
一第三介电层,设置在该第二介电层上方,且该第三介电层的材料不同于该第二介电层的材料和该第一介电层的材料;
一栅极接触件,至设置在该装置级层间介电层中的该栅极结构;以及
一源极/漏极接触件,至设置在该装置级层间介电层中的该源极/漏极区。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的