[发明专利]一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法有效

专利信息
申请号: 201911127966.0 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN111007314B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 黄德华;冯杰;张坤;李远远;方宏飞 申请(专利权)人: 晶晨半导体(深圳)有限公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16;G01R13/02
代理公司: 深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689 代理人: 罗华
地址: 518054 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 通过 示波器 余辉 模式 测量 soc 信号 稳定性 方法
【权利要求书】:

1.一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)在示波器上调出余辉模式;

(2)选择SOC的测试点包括EMMC_D0、EMMC_CMD和EMMC_CLK,并利用示波器的余辉磨损功能,调节测试记录长度,以用于单位时间内尽可能记录SOC器件工作时信号波形,对信号抖动边界和质量能更清楚展现;

(3)针对SOC内部输出信号进行测量,利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录,其中,SOC内部输出信号的信息包括信号波形、信号抖动、时钟信号的参数数据、输入指令的参数数据、输出指令的参数数据、输入数据的参数数据和输出数据的参数数据,通过观察测试项目中相应余晖的宽度,可以看出信号波形的形状,信号抖动是否严重,时钟信号的参数数据主要包括频率、周期、占空比、斜率和脉冲宽度,输入指令的参数数据包括建立时间和保持时间,输出指令的参数数据包括建立时间和保持时间,输入数据的参数数据包括建立时间、保持时间和斜率,输出数据的参数数据包括输出偏差时间、输出偏差保持时间和斜率;

(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对,以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。

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