[发明专利]一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法

说明书

本发明提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(System on chip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其是一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法。

背景技术

SOC(System on chip)端输出信号是否稳定可靠，很大的影响了系统通讯的稳定性，然而现有的SOC在出厂后，用户一般没有方法去测试其信号是否具备稳定性，因此急需开发一种方案来测试SOC(System on chip)端输出信号，判断输出信号是否稳定可靠。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(System on chip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。

本发明通过以下技术方案实现的：

本发明提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：

(1)在示波器上调出余辉模式；

(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；

(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC 内部输出信号的信息进行记录；

(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。

进一步的，包含SOC内部输出信号的信息包括信号波形、信号抖动、时钟信号的参数数据、输入指令的参数数据、输出指令的参数数据、输入数据的参数数据、输出数据的参数数据。

本发明的有益效果：

本发明提出的通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：(1)在示波器上调出余辉模式；(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、 EMMC_CLK；(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC内部输出信号的信息进行记录；(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。通过该方法，可以有效地测试和判断SOC(System onchip)端输出信号是否稳定可靠，对系统通讯的稳定性提供进一步的保障。

附图说明

图1为本发明中通过示波器余辉模式对SOC信号测量的测量结果表。

具体实施方式

为了更加清楚、完整的说明本发明的技术方案，下面结合附图对本发明作进一步说明。

本发明提出一种通过示波器余辉模式测量SOC信号稳定性的方法，包括如下步骤：

(1)在示波器上调出余辉模式；

(2)选择SOC的测试点：EMMC_D0、EMMC_CMD、EMMC_CLK；

(3)针对SOC内部输出信号进行测量，利用示波器的余辉模式对包含SOC 内部输出信号的信息进行记录；

(4)将包含SOC内部输出信号的信息和预设各项数据的标准值进行比对，以判断是否有足够余量来满足SOC信号的稳定性。