[发明专利]一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置

权利要求书

1.一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，包括：

通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；

所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；

所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求；

SD响应时间的测试是通过控制RST下降沿与BEN下降沿之间的脉冲宽度来控制的，调节两个脉冲信号之间的相位差，前面的BEN部分被RST强制复位，SD保持低电平；检测时序中RST的上升沿超前于BEN的上升沿，以保证SD的响应次数与BEN发送次数对应。

2.根据权利要求1所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：

通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均为可调节，且响应时间是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来调节。

3.根据权利要求2所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当光功率大于第一预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号各自的脉冲宽度和/或相位位置，使得响应时间满足预设时间阈值，以便进行SD/LOS的响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的响应测试达标，对应的响应电平和响应时间均满足要求；如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的响应测试不达标，对应的响应电平和/或响应时间不满足要求。

4.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，所述方法还包括：

将响应时间固定，通过不断调节ONU发送的光信号强度来调节响应电平；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数实时判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应电平。

5.根据权利要求3所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当确定SD/LOS的响应测试是否达标之后，则所述方法还包括：

将ONU发送的光信号强度固定，通过不断调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，来调节响应时间；每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点时，确定SD/LOS的真实响应时间。

6.根据权利要求2所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，当光功率小于第二预设阈值时，通过调节BEN脉冲信号和RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置，使得ONU处于常发光状态，以便进行SD/LOS的去响应测试；

则所述控制芯片通过沿触发或电平触发计数后，如果发现SD/LOS不响应，则证明SD/LOS的去响应测试达标，对应的去响应电平满足要求；如果发现SD/LOS响应，则证明SD/LOS的去响应测试不达标，对应的去响应电平不满足要求。

7.根据权利要求6所述的OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，其特征在于，在SD/LOS的去响应测试中，如果发现SD/LOS响应，则所述方法还包括：

不断调节ONU的光信号强度，每调节一次后，通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应；当检测至响应与不响应的临界点，确定SD/LOS的真实去响应电平。