[发明专利]一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置

说明书

本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置，方法包括：通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；待测OLT接收ONU发送的光信号，并向控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。本发明通过单控制芯片即可产生特定的检测时序，并采用特殊计数检测实现响应电平、去响应电平及响应时间的测试，降低了硬件设备要求与电路实现难度，测试复杂性、成本、测试效率都有很大优化。

【技术领域】

本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法与装置。

【背景技术】

光线路终端(Optical Line Terminal，简写为OLT)，是指用于连接光纤干线的终端设备。在OLT光模块中，SD(或LOS)是一个重要的指标参数，如其响应不及时或错误响应会影响光网络单元(Optiocal Network Unit，简写为ONU)的正常注册与跑流；而且SD/LOS的响应时间要求较严，通常在ns量级。因此，在实际应用中，通常需要对突发SD/LOS的响应是否满足要求进行检测，并对响应电平、去响应电平和响应时间进行测试。其中，SD/LOS表示“SD或LOS”，LOS为SD的反相。

传统的测试方法中，一般是通过发送高精度的逻辑时序作用于ONU和待测OLT，再通过示波器或逻辑电路来测试SD/LOS的电平变化与时间延迟。如果采用逻辑电路，则模拟系统时序沿时间测试，由于需要发送高精度的逻辑时序，并检测沿与沿之间的时间延迟，因此对逻辑电路的性能要求很高；如果采用示波器，将会增加设备投入，而且需要增加对示波器的控制读取，成本高昂且控制复杂。因此，对于OLT光模块中的突发SD/LOS检测，尤其是批量化测试，急需一种简单有效、易于控制的测试方法和装置。

鉴于此，克服上述现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

【发明内容】

本发明需要解决的技术问题是：

对于OLT光模块的突发SD/LOS检测，如果采用逻辑电路模拟系统时序沿时间测试，对逻辑电路的性能要求很高，如果采用示波器则会增加设备投入，而且成本高昂、控制复杂，因此急需一种简单有效、易于控制的测试方法和装置。

本发明通过如下技术方案达到上述目的：

第一方面，本发明提供了一种OLT光模块突发SD/LOS检测的方法，包括：

通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，使ONU发送突发光信号；其中，所述SD/LOS检测时序可调节；

所述待测OLT接收所述ONU发送的光信号，并向所述控制芯片反馈突发的SD/LOS信号；

所述控制芯片接收待测OLT反馈的SD/LOS信号，并通过沿触发或电平触发计数判断SD/LOS是否响应，进而检测SD/LOS的响应电平、去响应电平和/或响应时间是否满足要求。

优选的，所述通过控制芯片产生特定的SD/LOS检测时序，并作用于ONU和待测OLT，具体为：

通过控制芯片输出同步且特定相位差的BEN脉冲信号和RST脉冲信号；所述BEN脉冲信号作用于ONU，并用于控制所述ONU发送突发光信号；所述RST脉冲信号作用于待测OLT，并用于复位所述待测OLT的SD/LOS锁存状态；

其中，所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号各自的脉冲宽度以及相位位置均为可调节，且响应时间是通过调节所述BEN脉冲信号和所述RST脉冲信号的脉冲宽度和/或相位位置来调节。