[发明专利]基于双全景图像自动匹配的三维测距方法、装置及设备有效

专利信息
申请号: 201911129884.X 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN110966988B 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 郑晓平;姜思成 申请(专利权)人: 郑晓平
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 郑久兴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 双全 图像 自动 匹配 三维 测距 方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种基于双全景图像自动匹配的三维测距方法,其特征在于,包括:

获取第一全景图像和第二全景图像,确定待测量物点在所述第一全景图像中的第一像点,并根据第一像点信息确定所述待测量物点在所述第二全景图像中的第二像点,其中,像点信息至少包括:像点与竖直方向,即z轴正方向,之间的夹角和像点在全景图像中投影到xoy水平面时与x轴正方向之间的夹角;

根据所述第一像点和第二像点计算得到所述待测量物点在基准全景图像中的图像坐标,其中,所述基准全景图像为所述第二全景图像;

根据所述图像坐标计算得到所述待测量物点之间的距离;

其中,根据所述第一像点和第二像点计算得到所述待测量物点在基准全景图像中的图像坐标,包括:

根据所述第一像点和第二像点的像点信息计算所述待测量物点在基准全景图像中距离竖直轴之间的距离;

根据所述第一像点和第二像点的像点信息计算所述待测量物点在基准全景图像中的竖直坐标;

获取所述第一像点和第二像点的像点信息、所述待测量物点在基准全景图像中距离竖直轴之间的距离以及对应的竖直坐标,确定所述待测量物点在基准全景图像中的图像坐标。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取第一全景图像和第二全景图像,确定待测量物点在所述第一全景图像中的第一像点,并根据所述第一像点信息确定所述待测量物点在所述第二全景图像中的第二像点,包括:

获取第一全景图像和第二全景图像,确定待测量物点在所述第一全景图像中的第一像点,并将所述第一全景图像和第二全景图像分别拆分为多幅二维图像;

根据所述第一像点确定所述待测量物点所在的且与所述第一全景图像对应的第一二维图像以及与所述第二全景图像对应的第二二维图像;

提取所述第一二维图像和第二二维图像的特征点,并基于所述特征点对于所述第一二维图像和第二二维图像进行匹配,得到所述第一二维图像和第二二维图像之间的映射矩阵;

根据所述第一像点信息确定所述待测量物点在所述第一二维图像中的第一二维坐标信息,并根据所述映射矩阵得到所述待测量物点在所述第二二维图像中的第二二维坐标信息以及所述待测量物点在所述第二全景图像中的第二像点信息。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于下式,根据所述第一像点和第二像点的像点信息计算所述待测量物点在基准全景图像中距离竖直轴之间的距离d:

其中,b表示两幅全景图像之间的基线长度,α1表示所述第一像点在所述第一全景图像中与z轴正方向之间的夹角,α2表示所述第二像点在所述第二全景图像中与z轴正方向之间的夹角。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于下式,根据所述第一像点和第二像点的像点信息计算所述待测量物点在基准全景图像中的竖直坐标z:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述待测量物点在基准全景图像中的图像坐标表示为:(dcosβ,dsinβ,z),其中,β表示第二像点在所述基准全景图像中投影到xoy水平面时与x轴正方向之间的夹角。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述图像坐标计算得到所述待测量物点之间的距离,被实施为:

根据所述图像坐标计算得到所述待测量物点之间的欧式距离。

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