[发明专利]二阶电路中电路元件参数辨识方法、装置

权利要求书

1.一种二阶电路中电路元件参数辨识方法，其特征在于，包括：

对二阶电路进行放电，获取所述二阶电路随时间变化下的输出电压；

依据获取的随时间变化下的输出电压，确定与电路元件参数相关的输出电压模型；

将所述输出电压模型结合电路元件测试参数，得到电路元件参数优化模型；

将在输出电压稳定时确定的电路元件初始参数，代入所述电路元件参数优化模型中的电路元件测试参数；

对所述电路元件参数优化模型进行迭代，得到电路元件参数的数值；所述二阶电路包括电源，欧姆电阻，第一电容，第二电容，第一电阻，第二电阻，所述第一电阻与所述第一电容并联，所述第二电阻与所述第二电容并联；所述与电路元件参数相关的输出电压模型为：其中，t表示二阶电路放电时间，Vo(t)表示随时间变化下的输出电压数值，I表示对所述二阶电路进行恒流放电时的电流，e表示自然对数，R₀表示欧姆电阻的电路元件参数，R₀＝(E-Vo(1))/I，Vo(1)表示在二阶电路放电时间为1s时对应的输出电压数值，R₁表示第一电阻的电路元件参数，R₂表示第二电阻的电路元件参数，C₁表示第一电容的电路元件参数，C₂表示第二电容的电路元件参数，E表示电源电压；所述电路元件参数优化模型为：其中，U_o(t)＝E-IR₀-IX(1)(1-e^{-t/(X(1)X(3))})-IX(2)(1-e^{-t/(X(2)X(4))})，X＝[tR₁,tR₂,tC₁,tC₂]，tR₁表示第一电阻对应的电路元件测试参数，tR₂表示第二电阻对应的电路元件测试参数，tC₁表示第一电容对应的电路元件测试参数，tC₂表示第二电容对应的电路元件测试参数，X(1)＝tR₁，X(2)＝tR₂，X(3)＝tC₁，X(4)＝tC₂，s.t.表示限制条件；所述电路元件初始参数采用以下数值：pR₁＝((E-V_o(∞))/I-R₀)/2，pR₂＝((E-V_o(∞))/I-R₀)/2，pC₁＝2t/(E-IR₀-V_o(t))，pC₂＝2t/(E-IR₀-V_o(t))，其中，V_o(∞)表示输出电压稳定时收敛的数值，pR₁表示第一电阻对应的电路元件初始参数，pR₂表示第二电阻对应的电路元件初始参数，pC₁表示第一电容对应的电路元件初始参数，pC₂表示第二电容对应的电路元件初始参数。

2.根据权利要求1所述的二阶电路中电路元件参数辨识方法，其特征在于，所述对二阶电路进行放电，获取所述二阶电路随时间变化下的输出电压，包括：

对所述二阶电路进行恒流放电，获取随时间变化下所述二阶电路的输出端口的输出电压数值的变化情况。