[发明专利]二阶电路中电路元件参数辨识方法、装置

说明书

本发明公开了一种二阶电路中电路元件参数辨识方法、装置，所述方法包括：对二阶电路进行放电，获取所述二阶电路随时间变化下的输出电压；依据获取的随时间变化下的输出电压，确定与电路元件参数相关的输出电压模型；将所述输出电压模型结合电路元件测试参数，得到电路元件参数优化模型；将在输出电压稳定时确定的电路元件初始参数，代入所述电路元件参数优化模型中的电路元件测试参数；对所述电路元件参数优化模型进行迭代，得到电路元件参数的数值。采用上述方案，电路元件参数辨识结果准确，工作量较小。

技术领域

本发明涉及电路领域，尤其涉及一种二阶电路中电路元件参数辨识方法、装置。

背景技术

如今，用电器的应用越来越广泛。

在对用电器中的二阶电路中的电路元件参数进行识别时，现有技术中采用的解决方案较为复杂，或者得到的结果的准确度较低。

例如，在对锂电池进行建模，通过识别模型来识别电池的内部二阶电路中的电路元件参数时，现有技术中采用的技术方案得到识别结果往往与实际情况差别较大。

发明内容

发明目的：本发明旨在提供一种二阶电路中电路元件参数辨识方法、装置。

技术方案：本发明实施例中提供一种二阶电路中电路元件参数辨识方法，包括：对二阶电路进行放电，获取所述二阶电路随时间变化下的输出电压；依据获取的随时间变化下的输出电压，确定与电路元件参数相关的输出电压模型；将所述输出电压模型结合电路元件测试参数，得到电路元件参数优化模型；将在输出电压稳定时确定的电路元件初始参数，代入所述电路元件参数优化模型中的电路元件测试参数；对所述电路元件参数优化模型进行迭代，得到电路元件参数的数值。

具体的，所述二阶电路包括电源，欧姆电阻，第一电容，第二电容，第一电阻，第二电阻，所述第一电阻与所述第一电容并联，所述第二电阻与所述第二电容并联。

具体的，对所述二阶电路进行恒流放电，获取随时间变化下所述二阶电路的输出端口的输出电压数值的变化情况。

具体的，所述与电路元件参数相关的输出电压模型为：

其中，t表示二阶电路放电时间，Vo(t)表示随时间变化下的输出电压数值，I表示对所述二阶电路进行恒流放电时的电流，e表示自然对数，R₀表示欧姆电阻的电路元件参数，R₀＝(E-Vo(1))/I，Vo(1)表示在二阶电路放电时间为1s时对应的输出电压数值，R₁表示第一电阻的电路元件参数，R₂表示第二电阻的电路元件参数，C₁表示第一电容的电路元件参数，C₂表示第二电容的电路元件参数，E表示电源电压。

具体的，所述电路元件参数优化模型为：

其中，U_o(t)＝E-IR₀-IX(1)(1-e^{-t/(X(1)X(3))})-IX(2)(1-e^{-t/(X(2)X(4))})，X＝[tR₁,tR₂,tC₁,tC₂]，tR₁表示第一电阻对应的电路元件测试参数，tR₂表示第二电阻对应的电路元件测试参数，tC₁表示第一电容对应的电路元件测试参数，tC₂表示第二电容对应的电路元件测试参数，X(1)＝tR₁，X(2)＝tR₂，X(3)＝tC₁，X(4)＝tC₂，s.t.表示限制条件。

具体的，所述电路元件初始参数采用以下数值：