[发明专利]集成电路测试机连接性检测系统

权利要求书

1.一种集成电路测试机连接性检测系统，其特征在于，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：

保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；

待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；

开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；

短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；

导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试机连接性检测系统统，其特征在于，所述开路比较电路、短路比较电路、导通比较电路选用四运算放大器LM324，其中比较放大器LM324-01用于开路比较电路，比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03用于导通比较电路，比较放大器LM324-04用于短路比较电路，四运算放大器LM324的正极接+5V电源，负极接地；

所述开路比较电路包括比较放大器LM324-01，所述比较放大器LM324-01的输入正极接待测电路，输入负极分三路，分别经电阻R1接地、接比较放大器LM324-02的输入正极、经第二电阻接+5V电源，所述比较放大器LM324-01的输出端接三极管Q1基极，三极管Q1的发射极经电阻R3、发光二极管LED1接+5V电源，三极管Q1的集电极接地；

所述导通比较电路包括比较放大器LM324-02、比较放大器LM324-03，所述比较放大器LM324-02的输入负极接待测电路，比较放大器LM324-02输出端接三极管Q2基极，三极管Q2的发射极经电阻R4、发光二极管LED2接+5V电源，三极管Q2的集电极接地，所述比较放大器LM324-03的输入正极接待测电路，比较放大器LM324-03的输入负极接比较放大器LM324-04输入正极，比较放大器LM324-03输出端接三极管Q2基极；

所述短路比较电路包括比较放大器LM324-04，比较放大器LM324-04的输入正极还经电阻R5接地、经电阻R6接+5V电源，比较放大器LM324-04的输入负极接待测电路，比较放大器LM324-04的输出端接三极管Q3基极，三极管Q3的发射极经电阻R7、发光二极管LED3接+5V电源，三极管Q3的集电极接地。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试机连接性检测系统统，其特征在于，所述接口电路的每一个待测电路通道留置一个Pogo铜箔焊点，与测试机通道的Pogo pin 连接。

4.根据权利要求3所述的集成电路测试机连接性检测系统统，其特征在于，所述保护电路由二极管D1、二极管D2组成，二极管D1正极接地，二极管D1负极接二极管D2正极，二极管D2负极接+5V电源，二极管D1与二极管D2之间的电接点接接口电路，同时接待测电路。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试机连接性检测系统统，其特征在于，所述保护电路将待测电路的电压钳制在-0.7V ~ 5.7V之间，所述待测电路的通过电压在0.6~0.7V左右。